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用^(60)Co γ射线辐照集成电路试验初步探讨 被引量:1
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作者 符俊吾 赴达夫 +2 位作者 陈跃军 田蕴珍 《同位素》 CAS 北大核心 1990年第2期135-136,共2页
一、试验材料和方法1.样品小规模集成电路。2.型号①TO66,②TO93,③TO97。3.数量每个型号为10个编号,每个编号为1个集成片。
关键词 集成电路 辐照 钴60 射线
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集成电路辐射改性的研究
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作者 符俊吾 赵达夫 +1 位作者 邓荣忠 《辐射研究与辐射工艺学报》 CAS CSCD 北大核心 1992年第1期60-62,共3页
采用^(60)Co γ射线辐照对集成电路进行改性研究,通过试验,结果表明,集成电路经过辐照可以达到改善参数,提高元件的合格率。与美国Rikitts研究相吻合。
关键词 辐射 集成电路 参数变化 极限剂量
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