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CCD立靶密集度测量精度分析
被引量:
5
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作者
黄士亮
丁璐
王李
笛
《兵器装备工程学报》
CAS
2016年第9期28-31,共4页
针对立靶密集度对武器系统性能的重要性并基于CCD立靶密集度测量原理,对CCD立靶坐标测量精度进行仿真分析,推导出密集度测量的相关计算公式。对密集度测量精度进行了分析,提出了提高设备测量精度的技术措施。
关键词
CCD立靶
密集度
精度分析
下载PDF
职称材料
题名
CCD立靶密集度测量精度分析
被引量:
5
1
作者
黄士亮
丁璐
王李
笛
机构
中国人民解放军
中国科学院西安光学精密机械研究所
西南大学物理科学与技术学院
出处
《兵器装备工程学报》
CAS
2016年第9期28-31,共4页
文摘
针对立靶密集度对武器系统性能的重要性并基于CCD立靶密集度测量原理,对CCD立靶坐标测量精度进行仿真分析,推导出密集度测量的相关计算公式。对密集度测量精度进行了分析,提出了提高设备测量精度的技术措施。
关键词
CCD立靶
密集度
精度分析
Keywords
CCD vertical target
density
accuracy analysis
分类号
TJ206 [兵器科学与技术—武器系统与运用工程]
TP202 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
CCD立靶密集度测量精度分析
黄士亮
丁璐
王李
笛
《兵器装备工程学报》
CAS
2016
5
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职称材料
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