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延时电路在高温湿气环境中的腐蚀行为与机理研究 被引量:3
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作者 魏小琴 张伦武 +3 位作者 肖勇 艳艳 赵方超 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第7期197-202,共6页
目的提高延时电路的贮存环境适应性。方法在80℃、90%RH的湿热条件下,开展延时电路实验室加速老化试验,分别在老化0、97、133 d时取样,检测电性能,分析电路外表面腐蚀损伤特征,测试内部缺陷和多余物,检查腔体密封性,定位失效部位,观测... 目的提高延时电路的贮存环境适应性。方法在80℃、90%RH的湿热条件下,开展延时电路实验室加速老化试验,分别在老化0、97、133 d时取样,检测电性能,分析电路外表面腐蚀损伤特征,测试内部缺陷和多余物,检查腔体密封性,定位失效部位,观测内部芯片腐蚀损伤特征,检测腐蚀产物,分析高温湿气对延时电路外引线-玻璃界面密封性失效与可伐合金基体腐蚀的作用机制。结果湿热老化133 d时,延时电路输出端3无输出波形。随湿热老化时间的延长,外引线-玻璃界面缝隙腐蚀程度逐渐加深,氦漏率单调上升,壳体密封性逐渐降低乃至失效。外界湿气进入延时电路内部,整个老化周期内部芯片无缺陷,但133 d时电路内腔出现多余物,位于第14外引脚引线柱边缘处,也是导通测试定位的失效点。该引线柱的可伐合金基体与其上的镀金层在高温湿气的作用下,由于电位差形成腐蚀电池,可伐合金作为阴极与湿气和氧发生电化学腐蚀,生成腐蚀产物并覆盖于镀金表面,导致第14外引脚与其上的金键合丝之间开路,延时电路失效。结论降低延时电路贮存环境湿度,同时改进生产工艺,在金属-玻璃封接界面形成一层厚度适当的致密氧化膜过渡层,可延缓湿气进入电路内部。增大可伐合金基体镀金层或镀镍层厚度,可减小基体发生电化学腐蚀几率,提高延时电路贮存环境适应性。 展开更多
关键词 可伐合金 延时电路 高温湿气环境 加速老化试验 腐蚀行为 腐蚀机理
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产品的二次筛选试验影响分析 被引量:1
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作者 《环境技术》 2008年第4期26-28,共3页
通过某种产品的二次筛选试验前后的参数数据分析,从一个侧面分析了二次筛选试验对产品造成的影响,定量地表征了影响的程度,为以后的二次筛选乃至一次筛选对产品寿命影响的全面分析奠定基础。
关键词 二次筛选 工序能力指数Cpk 漂移 分布图
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一种基于硅转接板的高安全芯片集成技术研究 被引量:1
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作者 孙小进 +1 位作者 潘廷龙 守政 《微电子学与计算机》 2022年第7期115-120,共6页
针对芯片面临的侵入式物理攻击和侧信道攻击等安全威胁,结合2.5D硅转接板技术,提出了一种新型的芯片高安全、高密度集成方案.芯片被置于硅转接板的埋置槽中,而在该埋置槽中特地设计了能够实现攻击实时检测的高密度立体化金属屏蔽防护网... 针对芯片面临的侵入式物理攻击和侧信道攻击等安全威胁,结合2.5D硅转接板技术,提出了一种新型的芯片高安全、高密度集成方案.芯片被置于硅转接板的埋置槽中,而在该埋置槽中特地设计了能够实现攻击实时检测的高密度立体化金属屏蔽防护网络.埋置槽采用湿法腐蚀的方法进行制备,具有制造工艺简单、成本低等优点,也能够使得金属屏蔽防护网络设计更加灵活.同时,阐述了具体的设计方法和工艺实现流程,详细分析了湿法埋置槽、槽中光刻布线等制备技术,并利用三款芯片对所设计的方案进行了流片实现.实验结果表明:该技术能够实现针对芯片的侵入式物理攻击的防护检测,最小检测分辨率可到60微米.由于立体化金属屏蔽防护网络构成一个完整的法拉第笼,能够大幅降低芯片对外的电磁辐射强度,增强芯片抵御电磁侧信道攻击的能力. 展开更多
关键词 侵入式物理攻击 硅转接板 侧信道攻击 芯片安全防护
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SOI器件高温环境实验智能控制系统
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作者 张新 +2 位作者 高勇 安涛 刘梦新 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期529-533,共5页
本文介绍了基于总线集成控制技术设计的SOI器件高温环境实验装置的智能控制系统。该系统集信号检测、实时全程监控、自动记录及故障报警等功能于一体,完全满足SOI器件对高温环境实验的要求。实验表明,经过该系统测试后的产品性能,在可... 本文介绍了基于总线集成控制技术设计的SOI器件高温环境实验装置的智能控制系统。该系统集信号检测、实时全程监控、自动记录及故障报警等功能于一体,完全满足SOI器件对高温环境实验的要求。实验表明,经过该系统测试后的产品性能,在可靠性、精确度和工作效率等方面,比现有人工定时定机监测方式有明显的改善和提高。 展开更多
关键词 SOI器件 高温环境实验 动态监控 总线
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用单片机实现高温箱试验温度监控
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作者 《集成电路通讯》 2004年第3期42-45,共4页
利用单片机和数字温度传感器LM92实现高温试验箱的温度监控,并给出基于I2C总线的LM92的读写程序。
关键词 单片机 数字温度传感器 LM92 温度监控 I^2C总线
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Experimental study of surface crystallization on integrated circuit chips
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作者 张新 刘梦新 +3 位作者 高勇 彩琳 张弦 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第11期2746-2750,共5页
A surface crystallization phenomenon on bonding pads and wires of integrated circuit chip is reported in this paper. Through a lot of experiments, an unknown failure effect caused by mixed crystalline matter is reveal... A surface crystallization phenomenon on bonding pads and wires of integrated circuit chip is reported in this paper. Through a lot of experiments, an unknown failure effect caused by mixed crystalline matter is revealed, whereas non-plasma fluorine contamination cannot cause the failure of bonding pads. By experiments combined with infrared spectroscopy analysis, the surface crystallization effect is studied. The conclusion of the study can provide the guidance for IC fabrication, modelling and analysis. 展开更多
关键词 infrared spectrum technology bonding pad CRYSTALLIZATION FAILURE
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产品的二次筛选试验影响分析
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作者 守政 《集成电路通讯》 2008年第2期37-40,共4页
通过某种产品的二次筛选试验前后的参数数据分析,从一个侧面分析了二次筛选对产品造成的影响,定量的表征了影响的程度,为以后的二次筛选乃至一次筛选对产品寿命影响的全面分析奠定基础。
关键词 二次筛选 工序能力指数Cpk 漂移 分布图
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某惯性传感器组件抗高过载失效分析及改进
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作者 苏亚慧 黄艳辉 《弹箭与制导学报》 北大核心 2020年第5期35-38,共4页
某MEMS惯性传感器组件在130 mm弹载试验后出现无输出功能失效,经电性能测试、工艺结构分析、有限元力学仿真等分析。组件的失效主要是由于内部主控板受力不均出现了翘曲变形、断裂,最终导致组件失效。根据失效机理,优化了主控板的版图... 某MEMS惯性传感器组件在130 mm弹载试验后出现无输出功能失效,经电性能测试、工艺结构分析、有限元力学仿真等分析。组件的失效主要是由于内部主控板受力不均出现了翘曲变形、断裂,最终导致组件失效。根据失效机理,优化了主控板的版图及灌封工艺方法,使主控板的受力均匀性和一致性得到了控制,从而有效解决了失效问题。 展开更多
关键词 惯性传感器组件 弹载试验 失效分析 灌封
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