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基于改进YOLOv5s的Deep PCB缺陷检测算法研究 被引量:1
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作者 谢翔 肖金球 +2 位作者 汪俞成 焦文 徐一奇 《微电子学与计算机》 2023年第7期1-9,共9页
现有PCB缺陷检测方法的精确率较低而且模型复杂度也较高.针对这个问题,提出了基于改进YOLOv5s的Deep PCB缺陷检测算法.该算法在颈部网络(Neck)的C3层后添加了卷积注意力模块(Convolutional Block Attention Module,CBAM),对小目标的检... 现有PCB缺陷检测方法的精确率较低而且模型复杂度也较高.针对这个问题,提出了基于改进YOLOv5s的Deep PCB缺陷检测算法.该算法在颈部网络(Neck)的C3层后添加了卷积注意力模块(Convolutional Block Attention Module,CBAM),对小目标的检测建立特征映射关系,对特征图进行注意力重构,赋予了小目标更高的特征权重,提高网络对印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)图像中小目标的特征提取能力.为了从根本上解决目标特征冗余的问题,实现网络的轻量化,并且确保网络检测的精确度,提出使用Ghost Conv模块替换Conv模块,同时将C3模块改为Ghost Bottleneck模块.使用有效交并比损失(EIOU Loss)函数代替完全交并比损失(CIOU Loss)函数,减小了预测框宽高与置信度的真实差值,减少了网络的回归损失.使用上海交通大学图像处理与模式识别研究所公开的Deep PCB数据集开展实验,结果表明本文算法相较于YOLOv5s,在IOU=0.5时,mAP提升了6.8%,速度提升了4.7 Fps,模型大小减少了2.9 M,计算量减少了2.8 G. 展开更多
关键词 PCB YOLOv5s 缺陷检测
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测试探针性能检测系统的设计与实现 被引量:1
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作者 汪俞成 肖金球 +2 位作者 李盈 焦文 谢翔 《国外电子测量技术》 北大核心 2022年第10期97-103,共7页
为满足国内厂商对集成电路测试中测试探针出厂检测的要求,分析了测试探针需要检测的功能、参数和测试方法,利用压力传感器、温度传感器、激光位移传感器、电阻测量计、运动模块执行机构以及控制与数据采集模块,设计了一种以LabVIEW为核... 为满足国内厂商对集成电路测试中测试探针出厂检测的要求,分析了测试探针需要检测的功能、参数和测试方法,利用压力传感器、温度传感器、激光位移传感器、电阻测量计、运动模块执行机构以及控制与数据采集模块,设计了一种以LabVIEW为核心的多功能测试探针性能检测系统,实现了对测试探针性能的自动测试。实验结果表明,所设计系统能够对测试探针进行有效的性能检测,测量误差小于±4%,测试时间比传统人工测量提高了5倍左右,检测系统性能稳定,显著提升了测试效率和测试精度。 展开更多
关键词 测试探针 性能参数 LABVIEW 测量测试
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改进RCF算法的电缆绝缘层边缘检测 被引量:6
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作者 翁玉尚 肖金球 +1 位作者 汪俞成 焦文 《光学技术》 CAS CSCD 北大核心 2022年第1期86-92,共7页
目前电缆绝缘层厚度检测算法主要采用图像处理技术提取出绝缘层的边缘轮廓,此类算法存在绝缘层边缘过宽和边缘不连续等问题,影响了后续的检测精度。为提高绝缘层测量精度,新算法基于RCF算法进行改进,在模型的4、5阶段采用空洞卷积,增大... 目前电缆绝缘层厚度检测算法主要采用图像处理技术提取出绝缘层的边缘轮廓,此类算法存在绝缘层边缘过宽和边缘不连续等问题,影响了后续的检测精度。为提高绝缘层测量精度,新算法基于RCF算法进行改进,在模型的4、5阶段采用空洞卷积,增大模型的感受野;并在侧输出网络加入尺度增强模块(SEM模块)和由浅到深的级联网络,增加侧输出图像的细节信息。通过自制的电缆绝缘层数据集对模型进行训练,结果表明改进后的模型在数据集最优尺度(ODS)和单张图片最优尺度(OIS)分别为0.821和0.842,平均精度为0.799,算法相较于RCF模型ODS和OIS分别提高了0.008和0.01,检测精度提升了0.021。并在伯克利大学数据集(BSD500)数据集上对模型的性能进一步验证,其中ODS和OIS分别为0.810和0.825,所提算法相较于RCF模型ODS和OIS分别提高了0.009和0.006。 展开更多
关键词 电缆绝缘层边缘检测 深度学习 空洞卷积 多尺度模块 级联网络
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