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地质样品中痕量砷、锑、铋、镉、锗铟铊的光谱测定
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作者 吴景钵 张敏 《岩矿测试》 CAS 1983年第2期133-135,共3页
随着地球化学研究的逐步深入对痕量As、Sb、Bi、Cd及In、Ge、Tl的测定要求为10—10%。为此即使采用“ICP”法也很难达到这样低的检出限。本文采用比较简单的室电极,直流电弧,以碘化钾,硫磺,焦硫酸钾,炭粉作反应剂—缓冲剂,并采用饱和的K... 随着地球化学研究的逐步深入对痕量As、Sb、Bi、Cd及In、Ge、Tl的测定要求为10—10%。为此即使采用“ICP”法也很难达到这样低的检出限。本文采用比较简单的室电极,直流电弧,以碘化钾,硫磺,焦硫酸钾,炭粉作反应剂—缓冲剂,并采用饱和的KSO(内含少量I和KI)溶液浸泡电极,减少样品蒸气向电极外壁扩散及抑制造岩元素的大量蒸发,提高被测元素灵敏度和减少Si,Mg谱线对Sb、As谱线的干扰,同时研究了在各种条件下,电弧温度与电子密度的关系. 展开更多
关键词 电子密度 光谱测定 焦硫酸钾 直流电弧 造岩元素 地质样品 碘化钾 反应剂
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