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GaN材料生长研究 被引量:5
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作者 章其麟 孙文红 +3 位作者 刘燕飞 耿金花 秦国刚 《半导体情报》 1997年第5期6-9,共4页
用常压MOCVD方法我们在蓝宝石(0001)、Si(111)衬底上,成功地制备出GaN单晶薄膜材料,取得了GaN材料的初步测试结果。纯度GaN为n型,载流子浓度为1017~1018cm-3,迁移率为200~350cm... 用常压MOCVD方法我们在蓝宝石(0001)、Si(111)衬底上,成功地制备出GaN单晶薄膜材料,取得了GaN材料的初步测试结果。纯度GaN为n型,载流子浓度为1017~1018cm-3,迁移率为200~350cm2/V·s,双晶衍射半峰宽为7′,室温PL光谱本征发光波长为370nm,并首次观察到掺ZnGaN呈p型电导。 展开更多
关键词 氮化镓 发光二极管 外延生长
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