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题名一种电子标签的加速寿命试验可靠性预测方法研究
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作者
付利莉
董雪鹤
牛长胜
梁昭庆
白雪松
崔岚
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机构
北京智芯微电子科技有限公司
国家电网有限公司
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出处
《电子技术应用》
2024年第4期92-96,共5页
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文摘
随着微电子元器件设计能力和工艺技术的不断发展,器件的可靠性和寿命不断增加。射频识别电子标签具有需求量大、应用范围广、地域(使用温度)跨度大等特点,这就对产品本身的可靠性提出了较高的要求,研究器件在高低温下的退化特性具有重要的现实意义。基于Arrhenius理论提出了一种快速计算电子标签激活能的方法,对电子标签进行短时间的寿命加速试验,通过标签电场强度性能的退化数据预测寿命情况,快速求解电子标签的激活能,进而计算出不同温度条件下的加速因子,为电子标签在不同寿命评价标准下的加速试验时间提供理论依据。
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关键词
寿命加速
激活能
性能退化
快速计算
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Keywords
lifetime acceleration
activation energy
degradation of performance
quick calculation
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分类号
TP212
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名一种适应多芯场景的安全芯片业务测试系统设计
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作者
周静
付青琴
刘佳
白雪松
梁昭庆
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机构
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
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出处
《软件工程与应用》
2020年第5期434-440,共7页
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文摘
本文分析了多芯模组化智能电表的应用给安全芯片业务场景测试带来的挑战和问题,分析了传统测试方法中存在的缺陷,提出了能适应多芯业务场景的自动化业务测试系统。此方法通过提取用例,对安全芯片的业务进行模块化设计,提取密钥场景和芯片指令等可变量参数,封装SPI,7816,645协议,模拟多芯场景的业务交互流程,实现了业务流程的模块化和自动化,大大的提升了安全芯片业务流程测试的效率。
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关键词
安全芯片
业务流程测试
模块化
多芯业务场景
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Keywords
Security Chip
Workflow Test
Modulization
Multi-Core Service Scenarios
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分类号
TP3
[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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题名一种安全芯片操作系统测试装置
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作者
张伟
梁昭庆
付青琴
刘佳
袁家辉
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机构
北京智芯微电子科技有限公司
国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室
北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心
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出处
《信息与电脑》
2020年第19期112-114,共3页
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文摘
本文设计了一种安全芯片操作系统测试装置,是通过Python语言构建的,包括PCSC通信接口层、算法库接口层、功能指令接口层、基本算法接口层、脚本编写和执行层。通过PCSC通信接口层能够实现与待测安全芯片的通信,能够有效提高测试脚本的编写和调试速率。
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关键词
安全芯片操作系统
测试装置
PYTHON
PCSC通信
测试脚本
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Keywords
security chip
operating system
test device
Python
PCSC communication
test script
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分类号
G434
[文化科学—教育学]
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