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基于正交算法的车规级芯片耦合故障研究
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作者 张胜强 李明阳 +2 位作者 翟瑞卿 李帅东 李予佳 《现代信息科技》 2024年第12期23-26,共4页
从汽车芯片信息安全角度出发,由于汽车安全芯片工作主要受环境中的电磁、电压和光的影响,在阐明了电磁、电压和光对安全芯片的影响原理的基础上,综合考虑影响芯片工作的三种因素和因素间的相互作用,提出了多维组合的车规级安全芯片故障... 从汽车芯片信息安全角度出发,由于汽车安全芯片工作主要受环境中的电磁、电压和光的影响,在阐明了电磁、电压和光对安全芯片的影响原理的基础上,综合考虑影响芯片工作的三种因素和因素间的相互作用,提出了多维组合的车规级安全芯片故障注入测试技术。以典型安全芯片为例,对其进行电磁操纵、电压操纵、光注入以及三者的组合注入,比较故障注入前后安全芯片加密解密得到的密文或明文,从而能够得出安全芯片的安全性结论。 展开更多
关键词 故障注入 信息安全 车规级 安全芯片
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