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题名基于边缘相关的红外与可见光图像配准方法
被引量：6
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作者
王阿妮
马彩文
晁长征
刘爽
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机构
中国科学院西安光学精密机械研究所
西安微电子技术研究所
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出处
《现代电子技术》
2009年第10期104-106,共3页
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文摘
针对红外与可见光图像的配准问题,在传统的基于图像边缘相关匹配配准的基础上,提出一种改进的方法。该方法首先手动选取待配准图像与参考图像中包含同一目标的子图像;接着利用Canny算子提取子图像的边缘和子图像的边缘相关性,求取出子图像间的仿射变换模型参数;再进一步修正该参数,得到原图像之间的仿射变换模型;然后对待配准图像进行仿射变换及双线性插值,从而实现图像配准。实验结果证明,该方法较之传统的利用图像边缘相关性的配准方法,提高了图像配准的速度,具有较高的实时性和应用价值。
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关键词
子图像
边缘检测
相关匹配
图像配准
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Keywords
sub - image
edge detection
correlation matching
image registration
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分类号
TP751.1
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名CMOS标准单元后仿真及其时序信息的建立
被引量：2
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作者
晁长征
吴龙胜
刘佑宝
唐威
赵德益
苏强
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机构
西安微电子技术研究所
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2009年第5期83-86,91,共5页
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基金
西安-应用材料创新基金资助项目(XA-AM-200606)
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文摘
时序信息是标准单元特征化参数的重要组成部分.针对全定制标准单元的版图,在进行LVS验证之后,采用寄生参数提取工具对其进行晶体管级的寄生参数提取,得到单元内部的详细寄生电容和电阻值.提出了一种建立标准单元时序信息的方法,并以一个具体标准单元为例对其进行了版图后仿真,结果表明该法行之有效.
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关键词
标准单元
寄生参数提取
物理验证
版图后仿真
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Keywords
standard cell
parasitic parameter extraction
physical verification
post-layout simulation
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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