1
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可测试性技术的现状与未来 |
温熙森
胡政
易晓山
杨拥民
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《测控技术》
CSCD
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2000 |
31
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2
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智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用 |
温熙森
徐永成
易晓山
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《国防科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
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1999 |
24
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3
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机内测试技术发展趋势分析 |
徐永成
温熙森
易晓山
刘冠军
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《测控技术》
CSCD
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2001 |
17
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4
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多信号流图的测试性建模与分析 |
刘海明
易晓山
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《中国测试技术》
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2007 |
24
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5
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基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势 |
温熙森
刘冠军
黎琼炜
易晓山
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《航空计测技术》
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1999 |
16
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6
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基于向量通用生成函数的多性能参数多态系统可靠性分析 |
李春洋
陈循
易晓山
陶俊勇
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《兵工学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2010 |
20
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7
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智能机内测试技术及其应用 |
温熙森
易晓山
徐永成
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《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1998 |
12
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8
|
机内测试虚警原因的分析及其解决方案 |
徐永成
温熙森
易晓山
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《振动.测试与诊断》
EI
CSCD
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2002 |
14
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9
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智能BIT概念与内涵探讨 |
徐永成
温熙森
刘冠军
易晓山
徐建良
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2001 |
13
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10
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基于马尔可夫过程的k/n(G)系统共因失效分析 |
李春洋
陈循
易晓山
陶俊勇
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《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
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2009 |
15
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11
|
系统级BIT设计中的测试选择方法 |
黎琼炜
胡政
易晓山
张春华
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2001 |
12
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12
|
考虑共因失效的多态系统可靠性优化 |
李春洋
陈循
易晓山
|
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2010 |
10
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13
|
新型ART-2A算法及其在BIT故障诊断中的应用 |
徐永成
温熙森
易晓山
陶利民
|
《振动工程学报》
EI
CSCD
北大核心
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2002 |
4
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14
|
基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计 |
张西多
易晓山
胡政
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《计算机测量与控制》
CSCD
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2006 |
10
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15
|
基于边界扫描的电路板测试性优化设计 |
刘冠军
温熙森
易晓山
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《计算机工程与科学》
CSCD
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2002 |
6
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16
|
系统级故障隔离的间接熵法 |
黎琼炜
易晓山
刘冠军
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《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
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2001 |
6
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17
|
指挥控制系统作战适用性模型建立 |
温成
易晓山
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《兵工自动化》
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2008 |
7
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18
|
系统级BIT的故障隔离策略 |
黎琼炜
温熙森
易晓山
|
《自动化学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2004 |
6
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19
|
边界扫描测试信息压缩算法 |
胡政
易晓山
温熙森
|
《国防科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
|
2000 |
5
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20
|
某捷联惯导系统的BIT设计与实现 |
易晓山
李剑
刘冠军
|
《测控技术》
CSCD
|
2000 |
1
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