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基于Labview机器视觉的SIM卡槽缺陷检测系统研究 被引量：4
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作者 郑中华 施鑫铭 +2 位作者 刘伟斌 熊建辉 鄢仁辉 《东莞理工学院学报》 2021年第5期50-56,共7页
设计了一套基于Labview机器视觉的SIM卡槽缺陷检测系统,首先通过光学相机获得SIM卡槽的彩色图像,并结合Labview软件对图像进行灰度化处理和模板匹配算法,获得模板的匹配特征及位置;其次对图像进行形态学处理细化目标轮廓;再对图像进行... 设计了一套基于Labview机器视觉的SIM卡槽缺陷检测系统,首先通过光学相机获得SIM卡槽的彩色图像,并结合Labview软件对图像进行灰度化处理和模板匹配算法,获得模板的匹配特征及位置;其次对图像进行形态学处理细化目标轮廓;再对图像进行二值化处理,得到引脚上白色的斑点面积,通过判断斑点面积来确认引脚是否存在折弯、变形、缺失等情况;最后采用彩色定位算法来判断SIM卡槽上引脚是否存在漏铜情况,实现对SIM卡槽缺陷的准确检测,并将检测结果在人机交互界面进行显示。试验表明,所设计的检测系统误报率为0,漏报率为0,平均检测时间小于750 ms,满足实际生产的应用需求。 展开更多
关键词 LABVIEW 机器视觉 SIM卡槽 缺陷检测
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