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题名基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究
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作者
游文超
孙高宇
彭珂菲
黄姣英
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机构
北京航空航天大学可靠性与系统工程学院
南京信息工程大学自动化学院
中国农业大学工学院
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出处
《现代电子技术》
北大核心
2024年第16期7-12,共6页
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文摘
脉宽调制器作为开关电源的核心器件,已广泛应用于航天器中,但其贮存寿命会影响电源系统的可靠性,进而影响航天器任务执行的成败。在寿命评估中,加速退化试验是常用的试验方法,其中激活能值是预测器件贮存寿命的关键,但目前相关标准只有器件激活能值的参考范围,缺乏试验相关条件设置的详细描述,这会影响寿命评估的精度。为此,文中以JW1525脉宽调制器为研究对象,分析JW1525的结构及工作原理,设计并完成72 h的加速退化预试验,得到器件的退化敏感参数作为输出电压。根据预试验结果设计并完成440 h的加速退化正式试验,并结合Arrhenius模型对正式试验结果进行数据处理,得到JW1525的激活能为0.29 eV,常温下贮存寿命将近70年。通过详细的器件结构分析和试验开展,得出脉宽调制器的激活能和常温贮存寿命,可为后续研究提供数据和试验基础。
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关键词
加速退化试验
脉宽调制器
贮存寿命
Arrhenius模型
激活能
退化敏感参数
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Keywords
accelerated degradation test
pulse width modulator
storage life
Arrhenius model
activation energy
degradation sensitive parameter
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分类号
TN606-34
[电子电信—电路与系统]
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