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题名基于连续时间模型的染缸排产研究
被引量：1
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作者
廖锦源
伍乃骐
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机构
广东工业大学机电工程学院
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出处
《工业工程》
北大核心
2012年第4期114-118,共5页
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基金
国家自然科学基金资助项目(60474061)
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文摘
织物的染色是一种按订单生产的批处理过程。每个订单往往被分解成几个批次生产,为了保证质量,要求不同的批次应具有相同的生产环境。因此在对布匹印染的调度过程中,需要确定每个订单的批次,在满足交期的情况下将其分配到恰当的染缸中生产。文中针对印染企业染缸排产困难和布匹浸染的订单交期延迟现象,在合理假设的基础上建立一种连续时间模型。提出了估算时间槽的一种新方法,根据求解出来的时间槽,采用LINGO软件对该模型进行求解。实例证明了该种时间槽估算方法的可行性和有效性。
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关键词
生产调度
批处理
织物染色
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Keywords
production scheduling
batch process industry
textile dyeing process
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分类号
TP278
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名超高压器件界面电荷诱发击穿电压退化的改善
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作者
林大宪
伊牧
赖明芳
廖锦源
陈柏安
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机构
新唐科技-晶圆代工技术服务团队
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出处
《中国集成电路》
2013年第10期75-81,共7页
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文摘
本研究提出了一种创新的P型表面掺杂工程技术,可专门应用于仿真程序时,优化布局中具交互指叉(interdigital)几何图案的器件结构内,不同区域的PN结反向击穿电压退化现象。如:超高压器件的源极中心(Source Center)、漏极中心(Drain Center)、或是平坦区(flat region)。超高压器件的工艺中,PN结反向击穿电压的退化往往归咎于界面陷阱电荷(interface-trapped charge)。而在硅晶圆阶段中,由于封装等级(package level)可靠度测试(reliability test)所带来的热应力,亦可使击穿电压退化与电流拥挤(current crowding)等现象浮现。因此,在优化的过程中,为了保有器件的高击穿电压特性,吾人藉由改变P型表面掺杂的二维几何设计,同时也利用静电放电测试(ESD test),来观察界面陷阱电荷,在器件遭受静电放电攻击后的分布变化。本研究最终针对具备最大长度结构(length structure)的P型表面掺杂,在击穿电压操作范围内,以及静电放电测试中,如何得到更佳的稳定性,作深入探讨。
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关键词
超高压器件
P型表面掺杂
界面陷阱电荷
静电放电
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Keywords
Ultra-high voltage device, p-top, interface-trapped charge, electrostatic discharge
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分类号
TN386
[电子电信—物理电子学]
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