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FOG Bonding 电阻降低方案及机理探究
1
作者 韩鑫 王晓杰 +3 位作者 唐乌力吉白尔 谢建云 薛海林 闫亮 《中国科技纵横》 2024年第5期113-115,共3页
近年来,中小尺寸产品客户端上线TP问题频发,其中有一类TP不良由FOG Bonding电阻异常偏大导致,但二次因未知。FOG堆叠结构为PNL+ACF(异方性导电胶)+FPC,但PNL、FPC为走线电阻,本身电阻较小(<1Ω),故不考虑此影响。基于此,重点研究FOG ... 近年来,中小尺寸产品客户端上线TP问题频发,其中有一类TP不良由FOG Bonding电阻异常偏大导致,但二次因未知。FOG堆叠结构为PNL+ACF(异方性导电胶)+FPC,但PNL、FPC为走线电阻,本身电阻较小(<1Ω),故不考虑此影响。基于此,重点研究FOG Bonding接触电阻。首先建立机理模型并进行探究,然后通过调整FOG Bonding参数,使ACF导电粒子的爆破状态和胶体的固化状态达到最优,最终降低电阻。 展开更多
关键词 FOG Bonding 接触电阻 ACF爆破 ACF固化
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液晶盒闪屏改善机理研究
2
作者 张建平 张静 +3 位作者 王志强 唐乌力吉白尔 徐敬义 左雄灿 《科技创新与应用》 2024年第23期72-74,81,共4页
显示面板在切割、多次点灯、偏光片贴附测试或在模组制作过程中均会造成电荷残留累积,液晶盒状态下未能有效释放残留电荷导致闪屏。通过实物观察、程序调试、高温静置和闪屏现象复现等实验验证得出闪屏改善机理。对现有点灯治具进行模... 显示面板在切割、多次点灯、偏光片贴附测试或在模组制作过程中均会造成电荷残留累积,液晶盒状态下未能有效释放残留电荷导致闪屏。通过实物观察、程序调试、高温静置和闪屏现象复现等实验验证得出闪屏改善机理。对现有点灯治具进行模块升级(电压发生器及延长放电模块),首先通过提高刷新频率减少像素充电时间,其次是通过降低数据信号电压减少像素充电量,最后通过延长像素放电时间确保像素内电荷彻底释放。合入以上改善措施后将液晶盒闪屏不良彻底改善(不良发生率7%),有效提升产品良率。 展开更多
关键词 液晶盒 残留电荷 闪屏 充电时间 放电时间
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电化学腐蚀在液晶屏中的改善
3
作者 李志 谢建云 +2 位作者 李文可 唐乌力吉白尔 李伟 《电子技术与软件工程》 2023年第8期100-103,共4页
本文将从COF与COG产品差异性着手,以失效一次因建立机理模型,逐因子进行验证深层次的二次因,最终在设计及时序两方面可得到有效改善。设计上遵循:风险Pin远离,或变更为双Pin或加入Dummy Pin,具体依据失效系数进行调整;时序上遵循:高压差... 本文将从COF与COG产品差异性着手,以失效一次因建立机理模型,逐因子进行验证深层次的二次因,最终在设计及时序两方面可得到有效改善。设计上遵循:风险Pin远离,或变更为双Pin或加入Dummy Pin,具体依据失效系数进行调整;时序上遵循:高压差Pin满足充电率前提下降低驱动电压,不影响产品功能时序前提下,缩短高电压保持时间。实验最终结果表明,设计及时序上的方案可有效减缓电化学腐蚀的时长,提升产品在严苛环境下的有效运行时间,顺利达成客户的基准条件。 展开更多
关键词 COF 液晶屏 电化学腐蚀
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液晶盒透过率筛选研究
4
作者 张建平 张静 +4 位作者 王志强 唐乌力吉白尔 陈文君 谢建云 薛海林 《光电子技术》 CAS 2023年第4期355-358,共4页
通过对液晶盒点灯治具进行改造增加逻辑运算小盒及光学探头,实现液晶盒透过率测试,将偏光片贴附白玻璃、偏光片载台开槽以及实测液晶盒驱动电压并将程序设定,匹配测试液晶盒与模组产品的透过率。通过实验得出优化改造后的点灯治具测试... 通过对液晶盒点灯治具进行改造增加逻辑运算小盒及光学探头,实现液晶盒透过率测试,将偏光片贴附白玻璃、偏光片载台开槽以及实测液晶盒驱动电压并将程序设定,匹配测试液晶盒与模组产品的透过率。通过实验得出优化改造后的点灯治具测试液晶盒透过率与模组透过率波动趋势一致,可以满足液晶盒透过率筛选的需求,将透过率波动较大的产品前置拦截,有效规避后端模组资材的浪费。 展开更多
关键词 模组 液晶盒 透过率 波动 筛选
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屏内Gamma曲线分离机理研究
5
作者 张建平 张静 +5 位作者 王志强 唐乌力吉白尔 方业周 谢建云 薛海 林闫亮 《光电子技术》 CAS 2023年第2期186-190,共5页
针对双屏显示产品Gamma曲线分离现象,通过实物解析、电学实验、工艺过程数据及调整工艺条件等实验进行验证,并结合大量验证数据进行机理研究。通过实物测量可知上下屏的液晶盒盒厚及像素电极CD存在差异,因此导致上下屏的透过率不同,进... 针对双屏显示产品Gamma曲线分离现象,通过实物解析、电学实验、工艺过程数据及调整工艺条件等实验进行验证,并结合大量验证数据进行机理研究。通过实物测量可知上下屏的液晶盒盒厚及像素电极CD存在差异,因此导致上下屏的透过率不同,进而造成上下屏Gamma差异。通过工艺调查验证得出液晶盒盒厚及像素电极CD差异是受到设备硬件影响导致涂胶起涂位置均一性差造成的;最终通过上下屏间封框胶封闭、最适化膜厚导入及波动范围内像素电极CD增大等工艺改善,将Gamma曲线分离不良彻底改善(不良发生率12%),提高了产品画面显示品质。 展开更多
关键词 薄膜晶体管显示器 驱动电场 临界尺寸 液晶盒盒厚
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快门式3D显示中信号驱动方法与3D串扰的研究 被引量：1
6
作者 张春兵 晏斌 +4 位作者 徐利燕 唐乌力吉白尔 王峥 王章涛 邵喜斌 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2013年第4期582-586,共5页
快门式3D液晶显示是目前的市场主流,改善其串扰问题可以提高显示品质。文中描述了一种采用预充电和充电方式进行像素数据写入的侧边式LED背光快门眼镜3D显示装置。配合背光LED时序,实现了较高的3D显示亮度的同时,降低了3D显示中的串扰... 快门式3D液晶显示是目前的市场主流,改善其串扰问题可以提高显示品质。文中描述了一种采用预充电和充电方式进行像素数据写入的侧边式LED背光快门眼镜3D显示装置。配合背光LED时序,实现了较高的3D显示亮度的同时,降低了3D显示中的串扰。并且在实验中制作出一个139.7cm(55in)快门眼镜式3D显示装置,采用预充电和充电方式进行像素数据写入的信号驱动方法,并采用8组LED背光扫描进行时序控制。对制作的显示装置进行信号测试,3D光学测试,结果表明用此种方法主要可以降低液晶响应时间以及3D串扰。 展开更多
关键词 薄膜晶体管液晶显示 快门眼镜3D 预充电驱动 背光扫描 3D串扰 3D亮度
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高频水平Crosstalk的机理研究
7
作者 赵瑞龙 谢建云 +2 位作者 邱亚栋 王志强 唐乌力吉白尔 《电子技术与软件工程》 2022年第21期136-141,共6页
本文通过不断的方案设计和验证,首次提出受刷新频率影响的水平Crosstalk机理模型和影响因子,同时推出一套更高效精准的像素级Crosstalk评估方法。基于以上两部分:机理深究、评估方案创新,我们最终提出改善高频下的水平Crosstalk的Timin... 本文通过不断的方案设计和验证,首次提出受刷新频率影响的水平Crosstalk机理模型和影响因子,同时推出一套更高效精准的像素级Crosstalk评估方法。基于以上两部分:机理深究、评估方案创新,我们最终提出改善高频下的水平Crosstalk的Timing新设计。通过充电顺序的优化,在新产品上导入最优的充电Timing设计,将120Hz产品整体的水平Crosstalk值从2.0%优化到1.5%以下,(Panel的从1.22%降到0.41%),最终通过某品牌客户的严苛认证。该研究课题,达成了客户的高规格要求,推动了高频水平Crosstalk机理的进步,首次提出了业界领先的像素级评估方案。 展开更多
关键词 高刷屏 水平Crosstalk 像素级评估方案
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液晶盒点灯防护的研究 被引量：1
8
作者 张建平 张静 +3 位作者 王志强 唐乌力吉白尔 崔辛超 刘元 《电子世界》 CAS 2021年第8期73-76,共4页
随着显示面板行业的快速发展,模组厂也不断兴起;模组工序直接影响着产品的良率,在液晶盒点灯测试时,检测人员在检测过程中存在异常下电的行为,导致液晶盒内静电残留无法释放引起抖动不良;若输入液晶盒内的信号有异常杂波,超过TFT击穿电... 随着显示面板行业的快速发展,模组厂也不断兴起;模组工序直接影响着产品的良率,在液晶盒点灯测试时,检测人员在检测过程中存在异常下电的行为,导致液晶盒内静电残留无法释放引起抖动不良;若输入液晶盒内的信号有异常杂波,超过TFT击穿电压时MOS管就会击穿,导致显示异常。本文分别通过对点灯治具结构的升级及点灯程序的优化,在点灯治具上合入Source&VCOM短接模块并加装TVS管,增加快速放电程序,从而对液晶盒点灯检测过程中起到防护作用。 展开更多
关键词 液晶盒 击穿电压 MOS管 显示面板 良率 模组 快速放电 点灯
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