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消毒供应中心器械包装人员手卫生时效性研究 被引量:7
1
作者 孙艳红 陆晓荣 雪梅 《中国消毒学杂志》 CAS 北大核心 2016年第4期388-389,共2页
目的利用ATP生物荧光法快速监测消毒供应中心器械检查包装人员卫生手消毒效果,规范包装区工作人员卫生手消毒间隔时间,减少二次污染。方法包装区16位工作人员洗手、手消毒后进入包装区工作,工作1 h、2 h、3 h、4 h后分别用ATP生物荧光... 目的利用ATP生物荧光法快速监测消毒供应中心器械检查包装人员卫生手消毒效果,规范包装区工作人员卫生手消毒间隔时间,减少二次污染。方法包装区16位工作人员洗手、手消毒后进入包装区工作,工作1 h、2 h、3 h、4 h后分别用ATP生物荧光法对手部进行检测,连续观察一周,保证每人平均被采样3次。结果工作1 h、2 h、3 h、4 h后合格率分别为95.8%、83.3%、66.7%和45.8%。结论器械检查包装工作人员一次洗手或者使用快速手消毒剂后建议最长工作2 h后进行快速手消毒,以减少手部生物负荷转移到器械表面,增加器械生物负荷量。ATP生物荧光法监测卫生手消毒效果及时快速有效。 展开更多
关键词 ATP 手卫生 器械检查包装 检测
原文传递
输尿管软镜钬激光碎石术围手术期护理分析
2
作者 雪梅 《中文科技期刊数据库(文摘版)医药卫生》 2024年第7期0189-0192,共4页
分析在输尿管软镜钬激光碎石术围手术期护理的意义。方法 时间:2023年1月至2024年1月,样本:50例输尿管软镜钬激光碎石术患者,电脑数字随机法分2组,观察组:25例,围手术期护理;对照组:25例,常规护理,对比两组不同。结果 研究组患者的各项... 分析在输尿管软镜钬激光碎石术围手术期护理的意义。方法 时间:2023年1月至2024年1月,样本:50例输尿管软镜钬激光碎石术患者,电脑数字随机法分2组,观察组:25例,围手术期护理;对照组:25例,常规护理,对比两组不同。结果 研究组患者的各项指标改善效果更佳(p均<0.05),包括:生活质量、护理效果、恢复情况、并发症发生率。结论 为输尿管软镜钬激光碎石术患者提供围手术期护理服务,这种方式获得的效果更明显。 展开更多
关键词 输尿管软镜钬激光碎石术 围手术期护理 临床意义
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徐福文化旅游资源分类与开发模式研究
3
作者 雪梅 《河北旅游职业学院学报》 2024年第2期17-20,共4页
徐福文化旅游是通过聆听徐福东渡传说、学习徐福民俗文化、漫步徐福文化景观、领略徐福文化风情、体验徐福文化艺术等方式,融观赏、考察、学习、娱乐、参与、度假、购物于一体的一种文化旅游活动。为迎合当代旅游者的旅游需求,徐福文化... 徐福文化旅游是通过聆听徐福东渡传说、学习徐福民俗文化、漫步徐福文化景观、领略徐福文化风情、体验徐福文化艺术等方式,融观赏、考察、学习、娱乐、参与、度假、购物于一体的一种文化旅游活动。为迎合当代旅游者的旅游需求,徐福文化旅游资源的开发,一方面需要化无形于有形,变形定为神动,使游客置身文化景观之中,产生身临其境之感;另一方面需要为游客营造鲜活新奇的文化氛围,创造沉浸式体验空间;再一方面需要运用新兴科技手段,增强艺术表演效果,使游客穿梭在历史与现实之间,提高游客的参与度和获得感。 展开更多
关键词 徐福文化旅游 资源分类 开发模式 沉浸式体验
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LPCVD法在GaN上生长Ge薄膜及其特性(英文) 被引量:3
4
作者 谢自力 韩平 +6 位作者 张荣 曹亮 刘斌 修向前 雪梅 赵红 郑有炓 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期655-658,678,共5页
本文报道了在GaN/蓝宝石作衬底生长Ge薄膜材料的外延生长及其特性研究。研究了不同外延生长条件。结果表明,使用低压化学气相外延技术在GaN/蓝宝石衬底复合衬底上可以生长Ge薄膜。高分辨X射线衍射谱研究得到了峰位分别位于2θ=27.3°... 本文报道了在GaN/蓝宝石作衬底生长Ge薄膜材料的外延生长及其特性研究。研究了不同外延生长条件。结果表明,使用低压化学气相外延技术在GaN/蓝宝石衬底复合衬底上可以生长Ge薄膜。高分辨X射线衍射谱研究得到了峰位分别位于2θ=27.3°、2θ=45.3°和2θ=52.9°的Ge峰.原子力显微镜研究表明得到的Ge薄膜的表面粗糙度为43.4nm。扫描电子显微镜研究表明生长的Ge/GaN/蓝宝石具有清晰的层界,表面Ge晶粒致密并且分布均匀。Raman谱表明所生长的Ge的TO声子峰位于299.6cm-1,这表明了生长的Ge薄膜具有良好的质量。 展开更多
关键词 Ge GAN 衬底 低压化学气相沉积
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徐福东渡传说演变研究
5
作者 雪梅 《江苏理工学院学报》 2023年第1期93-100,共8页
徐福东渡事件距今已有两千余年历史,由该历史事件引发的徐福东渡传说,时至今日仍然在东亚舞台传播。梳理分析中国史料与日、朝史料中的相关记述,理清徐福东渡传说的演变历程,从历时视角解析传说演变的内在动力和外在原因。研究发现,徐... 徐福东渡事件距今已有两千余年历史,由该历史事件引发的徐福东渡传说,时至今日仍然在东亚舞台传播。梳理分析中国史料与日、朝史料中的相关记述,理清徐福东渡传说的演变历程,从历时视角解析传说演变的内在动力和外在原因。研究发现,徐福东渡传说的叙事内容经历了得道成仙、东渡日本、东渡传书三个阶段的演变。作为一个回溯历史反映东亚互动的古老传说,徐福东渡传说在东亚文化交流中互动而生。徐福东渡传说的演变过程,回应着时代诉求、反映着时代特色、展现了东亚的历史格局。可以说,徐福东渡传说的演变史,正是古代以中日韩三国为代表的东亚文化互动史。 展开更多
关键词 徐福传说 历史真实 互动 文化互动
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预非晶化硅中注入硼的异常扩散 被引量:2
6
作者 鲍希茂 雪梅 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第7期539-545,共7页
预非晶化硅中,在非晶区和损伤区之间有一重损伤层存在,其边缘清楚,厚度约为20nm,包含有大量的扩展缺陷。它阻挡了尾部损伤区内簇团分解放出的硅间隙原子向非晶区扩散,大大削弱了非晶区内注入硼的异常扩散。选用条件适当的二次硅离子注入... 预非晶化硅中,在非晶区和损伤区之间有一重损伤层存在,其边缘清楚,厚度约为20nm,包含有大量的扩展缺陷。它阻挡了尾部损伤区内簇团分解放出的硅间隙原子向非晶区扩散,大大削弱了非晶区内注入硼的异常扩散。选用条件适当的二次硅离子注入,使重损伤层加重加厚,从而完全阻止了非晶层内硼的异常扩散。本文在实验上为重损伤层阻止非晶区内硼异常扩散的模型提供证明。 展开更多
关键词 非晶硅 离子注入 异常扩散
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Growth of β-Ga_2O_3 Films on Sapphire by Hydride Vapor Phase Epitaxy 被引量:3
7
作者 Ze-Ning XIONG Xiang-Qian XIU +7 位作者 Yue-Wen LI Xue-Mei HUA Zi-Li XIE Peng CHEN Bin LIU Ping HAN Rong ZHANG You-Dou ZHENG 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2018年第5期141-143,共3页
Two-inch Ga_2O_3 films with(ˉ201)-orientation are grown on c-sapphire at 850–1050°C by hydride vapor phase epitaxy. High-resolution x-ray diffraction shows that pure β-Ga_2O_3 with a smooth surface has a hig... Two-inch Ga_2O_3 films with(ˉ201)-orientation are grown on c-sapphire at 850–1050°C by hydride vapor phase epitaxy. High-resolution x-ray diffraction shows that pure β-Ga_2O_3 with a smooth surface has a higher crystal quality, and the Raman spectra reveal a very small residual strain in β-Ga_2O_3 grown by hydride vapor phase epitaxy compared with bulk single crystal. The optical transmittance is higher than 80% in the visible and near-UV regions, and the optical bandgap energy is calculated to be 4.9 e V. 展开更多
关键词 Growth of Ga2O3 Films on Sapphire by Hydride Vapor Phase Epitaxy XRD
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Si(111)衬底上HVPE GaN厚膜生长 被引量:1
8
作者 颜怀跃 修向前 +7 位作者 雪梅 刘战辉 周安 张荣 谢自力 韩平 施毅 郑有炓 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第3期509-511,515,共4页
在Si(111)衬底上,以MOCVD方法高温外延生长的AlN为缓冲层,使用氢化物气相外延(HVPE)方法外延生长了15μm的c面GaN厚膜。并利用X射线衍射(XRD)、光致发光谱(PL)、拉曼光谱(Raman)等技术研究了GaN厚膜的结构和光学性质。分析结果表明,GaN... 在Si(111)衬底上,以MOCVD方法高温外延生长的AlN为缓冲层,使用氢化物气相外延(HVPE)方法外延生长了15μm的c面GaN厚膜。并利用X射线衍射(XRD)、光致发光谱(PL)、拉曼光谱(Raman)等技术研究了GaN厚膜的结构和光学性质。分析结果表明,GaN厚膜具有六方纤锌矿结构,外延层中存在的张应力较小,为0.17GPa,在363.7nm处具有很强的GaN带边发光峰,没有黄带出现。AlN缓冲层有效地阻止了Si衬底和反应气体发生非生长的附加反应,并减小了GaN厚膜自身残余应力,有利于Si(111)衬底上HVPE GaN厚膜的生长。 展开更多
关键词 氢化物气相外延 HVPE SI GAN
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利用Ni纳米岛模板制备半极性晶面GaN纳米柱 被引量:1
9
作者 杨国锋 陈鹏 +8 位作者 于治国 刘斌 谢自力 修向前 韩平 赵红 雪梅 张荣 郑有炓 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第6期417-420,442,共5页
报道了在GaN表面以Ni纳米岛结构作为模板,利用电感耦合等离子(ICP)刻蚀制备GaN纳米柱的研究结果。原子力显微镜(AFM)测试结果表明,金属Ni薄膜在快速热退火(RTA)作用下形成了平均直径和高度大约分别为325 nm和70 nm的纳米岛状结构。通过... 报道了在GaN表面以Ni纳米岛结构作为模板,利用电感耦合等离子(ICP)刻蚀制备GaN纳米柱的研究结果。原子力显微镜(AFM)测试结果表明,金属Ni薄膜在快速热退火(RTA)作用下形成了平均直径和高度大约分别为325 nm和70 nm的纳米岛状结构。通过电子扫描显微镜(SEM)照片看出,以GaN表面所形成的Ni纳米岛作为模板图形,通过控制ICP刻蚀时间,在一定的刻蚀时间内(2 min)获得有序的并拥有半极性晶面的GaN纳米柱阵列。这种新颖的半极性GaN纳米柱作为氮化物量子阱或者超晶格结构的生长模板,可以有效减小甚至消除极化效应,提高光电子器件的效率和性能。 展开更多
关键词 氮化镓 镍纳米岛模板 电感耦合等离子刻蚀 半极性面 氮化镓纳米柱
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Chemical mechanical polishing of freestanding GaN substrates 被引量:2
10
作者 颜怀跃 修向前 +6 位作者 刘战辉 张荣 雪梅 谢自力 韩平 施毅 郑有炓 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期26-29,共4页
Chemical mechanical polishing (CMP) has been used to produce smooth and scratch-free surfaces for GaN. In the aqueous solution of KOH, GaN is subjected to etching. At the same time, all surface irregularities, inclu... Chemical mechanical polishing (CMP) has been used to produce smooth and scratch-free surfaces for GaN. In the aqueous solution of KOH, GaN is subjected to etching. At the same time, all surface irregularities, including etch pyramids, roughness after mechanical polishing and so on will be removed by a polishing pad. The experiments had been performed under the condition of different abrasive particle sizes of the polishing pad. Also the polishing results for different polishing times are analyzed, and chemical mechanical polishing resulted in an average root mean square (RMS) surface roughness of 0.565 nm, as measured by atomic force microscopy. 展开更多
关键词 GAN chemical mechanical polishing epitaxial layers
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电流互感器对电能计量的影响分析
11
作者 雪梅 《低碳世界》 2015年第30期53-54,共2页
在我国社会经济不断发展和人们生活水平不断提高的现阶段,电力能源已经成为人们生活和工作中必不可少的资源之一,我国现阶段对电力使用情况进行统计的方式是电能计量,其计量的准确性与否直接关系到我国电力收费工作的开展,对电力企... 在我国社会经济不断发展和人们生活水平不断提高的现阶段,电力能源已经成为人们生活和工作中必不可少的资源之一,我国现阶段对电力使用情况进行统计的方式是电能计量,其计量的准确性与否直接关系到我国电力收费工作的开展,对电力企业的发展也具有一定的影响,然而,影响电力互感器运行的原因有很多,本文针对电流互感器对电能计量的影响进行了重点分析,并提出了保证电力互感器正常运行的有效的对策,以保证我国电力领域的健康发展。 展开更多
关键词 电流互感器 电能计量 影响分析
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阳极多孔氧化铝的斜孔形成过程及机理
12
作者 于治国 刘荣海 +10 位作者 周建军 赵红 雪梅 刘斌 谢自力 修向前 宋雪云 陈鹏 韩平 张荣 郑有炓 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第8期1302-1305,共4页
研究了在草酸、磷酸不同电压条件下,阳极氧化铝(AAO)的孔结构特点。在较高电压下(60~120V),孔发生倾斜,并随电压的增大而加剧。通过建立与阻挡层/金属界面的应力有关的流模型对这一现象进行解释,并发现孔倾斜是AAO从无序到有序的一个... 研究了在草酸、磷酸不同电压条件下,阳极氧化铝(AAO)的孔结构特点。在较高电压下(60~120V),孔发生倾斜,并随电压的增大而加剧。通过建立与阻挡层/金属界面的应力有关的流模型对这一现象进行解释,并发现孔倾斜是AAO从无序到有序的一个自组织的现象。 展开更多
关键词 阳极多孔氧化铝 斜孔 应力 流模型
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红橙光InGaN/GaN量子阱的结构与光学性质研究
13
作者 苏辉 张荣 +8 位作者 谢自力 刘斌 李毅 傅德颐 赵红 雪梅 韩平 施毅 郑有炓 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第10期747-750,共4页
采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)技术生长了具有高In组分InGaN阱层的InGaN/GaN多量子阱(MQW)结构,高分辨X射线衍射(HRXRD)ω-2θ扫描拟合得到阱层In含量28%。比较大的表面粗糙度表明有很大的位错密度。室温下光致荧光(PL)研究发现该... 采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)技术生长了具有高In组分InGaN阱层的InGaN/GaN多量子阱(MQW)结构,高分辨X射线衍射(HRXRD)ω-2θ扫描拟合得到阱层In含量28%。比较大的表面粗糙度表明有很大的位错密度。室温下光致荧光(PL)研究发现该量子阱发射可见的红橙光,峰位波长在610 nm附近。变温PL(15~300 K)进一步揭示量子阱在低温下有两个发光机制,对应的发射峰波长分别为538 nm和610 nm。由于In分凝和载流子的局域化导致的载流子动力改变,使得量子阱PL发光峰值随温度增加呈明显的"S"变化趋势。 展开更多
关键词 INGAN/GAN多量子阱 金属有机化学气相沉积 光致荧光谱 原子力显微镜 红橙光
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GaN纳米柱的量子效率研究
14
作者 李扬扬 陈鹏 +10 位作者 蒋府龙 杨国锋 刘斌 谢自立 修向前 韩平 赵红 雪梅 施毅 张荣 郑有炓 《南京大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2014年第3期320-324,共5页
主要通过低温和室温变功率光致发光(PL)谱的实验手段,研究了GaN纳米柱和对应薄膜(作为参考)的量子效率表现.实验中发现在室温,激发光功率为0.5mW时,GaN纳米柱的积分PL强度是薄膜的12.2倍,这表明GaN纳米柱具有比薄膜更高的内量子效率和... 主要通过低温和室温变功率光致发光(PL)谱的实验手段,研究了GaN纳米柱和对应薄膜(作为参考)的量子效率表现.实验中发现在室温,激发光功率为0.5mW时,GaN纳米柱的积分PL强度是薄膜的12.2倍,这表明GaN纳米柱具有比薄膜更高的内量子效率和光引出效率.另外,依据高低温积分PL强度比的方法计算得到激发光功率0.5mW时,GaN纳米柱的内量子效率低于薄膜,该计算结果违背由实验现象得到的结果,这表明该内量子效率的计算方法是不合适的,因而建立了一种新模型,得到GaN纳米柱和薄膜的内量子效率比随激发光功率的变化规律,结果表明GaN纳米柱的内量子效率表现显著优于薄膜. 展开更多
关键词 GaN纳米柱 光致发光(PL) 量子效率
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用氢化物气相外延(HVPE)法生长的氮化铟薄膜的性质研究
15
作者 俞慧强 修向前 +7 位作者 张荣 雪梅 谢自力 刘斌 陈鹏 韩平 施毅 郑有炓 《高技术通讯》 CAS CSCD 北大核心 2014年第9期971-974,共4页
在自制设备上用氢化物气相外延(HVPE)方法在α-Al_2O_3以及GaN/α-Al_2O_3衬底上生长了InN薄膜,并对其性质进行了研究。重点研究了生长温度的变化对所获得的InN薄膜的影响,并利用X射线衍射研究了InN薄膜的结构,用扫描电子显微镜研究了... 在自制设备上用氢化物气相外延(HVPE)方法在α-Al_2O_3以及GaN/α-Al_2O_3衬底上生长了InN薄膜,并对其性质进行了研究。重点研究了生长温度的变化对所获得的InN薄膜的影响,并利用X射线衍射研究了InN薄膜的结构,用扫描电子显微镜研究了其表面性质,用霍尔测量研究了其电学性质。x射线衍射的结果表明,直接在α-Al_2O_3上生长得到的是InN多晶薄膜;而在GaN/α-Al_2O_3上得到的InN薄膜都只有(0002)取向,并且没有金属In或是In相关的团簇存在。综合分析可以发现,在650℃时无法得到InN薄膜,而在温度550℃时生长的InN薄膜具有光滑的表面和最好的晶体质量。 展开更多
关键词 氮化铟(InN) 薄膜 氢化物气相外延(HVPE)
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激光波长对SOI激光结晶机理的影响
16
作者 蒋锡平 鲍希茂 雪梅 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第10期615-618,629,共5页
本文用两种波长不同的激光——Ar^+激光和CO_2激光,对以石英为衬底的a-Si SOI进行了激光结晶。两者的结晶机理不同,得到了不同的结晶形貌。
关键词 非晶硅 SOI结晶 激光 外延生长
全文增补中
硅中注入硼的异常扩散
17
作者 鲍希茂 郭强 雪梅 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1989年第4期383-386,共4页
浅结制备是超大规模集成电路发展的关键技术之一。硅中硼、磷等杂质注入,在退火时发生异常扩散,使浅结的控制困难。异常扩散是一个瞬态快速扩散过程。对于硼,在退火开始时,杂质分布尾部推移极快,随之减慢,恢复正常扩散。这一过程用衰变... 浅结制备是超大规模集成电路发展的关键技术之一。硅中硼、磷等杂质注入,在退火时发生异常扩散,使浅结的控制困难。异常扩散是一个瞬态快速扩散过程。对于硼,在退火开始时,杂质分布尾部推移极快,随之减慢,恢复正常扩散。这一过程用衰变时间表征。 展开更多
关键词 注入 扩散 缺陷
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无电极光助化学腐蚀法制备GaN微/纳米结构及其物性研究
18
作者 张士英 修向前 +10 位作者 徐庆君 王恒远 雪梅 谢自力 刘斌 陈鹏 韩平 陆海 顾书林 张荣 郑有炓 《中国科学:物理学、力学、天文学》 CSCD 北大核心 2015年第8期89-102,共14页
利用K2S2O8作为氧化剂,通过无电极光助化学腐蚀GaN外延层制备多种形貌的GaN微米/纳米结构.采用扫描电子显微镜(SEM)、阴极射线发光图(CL mapping)、高分辨X射线衍射(HRXRD)、拉曼光谱(Raman spectra)和光致发光谱(PL)等先进的表征手段... 利用K2S2O8作为氧化剂,通过无电极光助化学腐蚀GaN外延层制备多种形貌的GaN微米/纳米结构.采用扫描电子显微镜(SEM)、阴极射线发光图(CL mapping)、高分辨X射线衍射(HRXRD)、拉曼光谱(Raman spectra)和光致发光谱(PL)等先进的表征手段研究腐蚀样品的形貌、晶体结构和光学性质.结果表明:在高浓度的KOH(1 mol/L)和低强度的紫外光照下,腐蚀出高质量的腐蚀坑、微米/纳米柱和纳米线;在低浓度KOH(0.4 mol/L)和高强度的紫外光照下,制备出GaN棱锥,研究发现此微米/纳米锥体阵列为包裹了位错的GaN晶体.在腐蚀液KOH浓度低至0.1 mol/L时,GaN腐蚀样品表面形成大量的晶须,聚集成束,晶须揭露了位错;并探讨了多形貌微米/纳米GaN的形成机理.腐蚀温度和GaN外延层极性对腐蚀形貌也具有明显的影响. 展开更多
关键词 GaN微米/纳米结构 无电极光助化学腐蚀法 阴极射线发光图
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氢化非晶硅结晶膜的微结构研究
19
作者 黄信凡 雪梅 +2 位作者 朱伟英 郑虹 陈坤基 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 1991年第5期370-376,共7页
本文利用连续波Ar^+激光和卤钨灯光对等离子体增强化学汽相淀积法(PECVD)淀积的未掺杂和掺磷的α-Si:H膜进行结晶。对于Ar^+激光辐照结晶情况由转靶X射线衍射分析和透射电子显微镜(TEM)分析表明,上述两种薄膜无明显差异,均呈现<111&... 本文利用连续波Ar^+激光和卤钨灯光对等离子体增强化学汽相淀积法(PECVD)淀积的未掺杂和掺磷的α-Si:H膜进行结晶。对于Ar^+激光辐照结晶情况由转靶X射线衍射分析和透射电子显微镜(TEM)分析表明,上述两种薄膜无明显差异,均呈现<111>择优取向,平均晶粒尺寸约数十微米。对于灯光结晶情况,在700℃/4min条件下,也均呈现<111>择优取向,但掺磷样品的结晶程度更强一些,X射线衍射峰更尖锐,相应的平均晶粒尺寸较大,达亚微米量级。 展开更多
关键词 氢化非晶硅 结晶膜 微结构
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测定a-Si:H结晶膜平均晶粒尺寸的一种新方法
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作者 黄信凡 雪梅 +1 位作者 徐骏 陈迎迎 《南京大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1992年第3期391-396,共6页
本文提出一种测定氢化非晶硅(a-Si:H)结晶膜平均晶粒尺寸的新方法。首先测量结晶膜的电流—电压特性的实验曲线,然后与按照理论模型由计算机模拟作图所得一组曲线进行比较,我们能够得到结晶膜的平均晶粒尺寸。该方法也适用于多晶硅的结... 本文提出一种测定氢化非晶硅(a-Si:H)结晶膜平均晶粒尺寸的新方法。首先测量结晶膜的电流—电压特性的实验曲线,然后与按照理论模型由计算机模拟作图所得一组曲线进行比较,我们能够得到结晶膜的平均晶粒尺寸。该方法也适用于多晶硅的结晶膜。 展开更多
关键词 氢化 非晶硅 激光 结晶 晶粒尺寸
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