以扫描电子显微镜(SEM)为本次研究的研究工具,以背散射模式为本次研究的拍摄模式,以表面做过包覆处理的三元正极材料为研究对象,以未对表面做过包覆处理的三元正极材料为空白对比对象,对材料表面形貌表征进行研究。研究了不同发射电压...以扫描电子显微镜(SEM)为本次研究的研究工具,以背散射模式为本次研究的拍摄模式,以表面做过包覆处理的三元正极材料为研究对象,以未对表面做过包覆处理的三元正极材料为空白对比对象,对材料表面形貌表征进行研究。研究了不同发射电压及电子束流大小(sport)对表征效果的影响。结果表明,在加偏压(beam deceleration)后,选择发射电压1 k V,sport在2~3范围内的条件下,对三元材料表面表征效果最佳。展开更多
文摘以扫描电子显微镜(SEM)为本次研究的研究工具,以背散射模式为本次研究的拍摄模式,以表面做过包覆处理的三元正极材料为研究对象,以未对表面做过包覆处理的三元正极材料为空白对比对象,对材料表面形貌表征进行研究。研究了不同发射电压及电子束流大小(sport)对表征效果的影响。结果表明,在加偏压(beam deceleration)后,选择发射电压1 k V,sport在2~3范围内的条件下,对三元材料表面表征效果最佳。