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基于MD_Nastran的双卡套管接头性能分析 被引量：1
1
作者 廖仲生 兰丕祥 +2 位作者 邓晓帆 叶元杰 候凤媛 《机电技术》 2013年第2期48-50,56,共4页
双卡套管接头各组件形成密封的过程是典型的边界条件高度非线性问题。文中基于MD_Nastran的SOL600模块对某型12mm内径的双卡套管接头进行了隐式非线性分析,确定了该型双卡套管接头形成有效密封后各组件的应力大小、应力分布等关键性能参... 双卡套管接头各组件形成密封的过程是典型的边界条件高度非线性问题。文中基于MD_Nastran的SOL600模块对某型12mm内径的双卡套管接头进行了隐式非线性分析,确定了该型双卡套管接头形成有效密封后各组件的应力大小、应力分布等关键性能参数,为该型双卡套管接头的改进和后续研发提供了有益的参考。 展开更多
关键词 双卡套管接头 有限元 隐式非线性分析 密封性能
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