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题名二次离子质谱(SIMS)分析技术及应用进展
被引量：27
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作者
周强
李金英
梁汉东
伍昌平
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机构
煤炭资源教育部重点实验室(中国矿业大学)
中国原子能科学研究院
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出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2004年第2期113-120,共8页
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文摘
二次离子质谱 ( SIMS)比其他表面微区分析方法更灵敏。由于应用了中性原子、液态金属离子、多原子离子和激光一次束 ,后电离技术 ,离子反射型飞行时间质量分析器 ,离子延迟探测技术和计算机图像处理技术等 ,使得新型的 SIMS的一次束能量提高到 Me V,束斑至亚μm,质量分辨率达到 1 5 0 0 0 ,横向和纵向分辨率小于 0 .5μm和 5 nm,探测限为 ng/g,能给出二维和三维图像信息。 SIMS能用于矿物、核物质、陨石和宇宙物质的半定量元素含量和同位素丰度测定 ,能鉴定出高挥发性、热不稳定性的生物大分子 ,能进行横向和纵向剖析 ,能进行单颗粒物、团蔟、聚合物、微电子晶体、生物芯片、生物细胞同位素标记和单核苷酸多肽性分型 ( SNP)测定 ,能观测出含有 2 0 0 0碱基对的脱氧核糖核酸 ( DNA)的准分子离子峰。以SIMS在同位素、颗粒物、大分子、生物等研究领域的应用为重点 ,结合实例 ,对
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关键词
二次离子质谱
技术原理
分析仪器
表面分析技术
SIMS
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Keywords
mass spectrometry
development on secondary ion mass spectrometry (SIMS)
review
profile
application
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分类号
O657.63
[理学—分析化学]
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