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数字电路可测性设计的一种故障定位方法
被引量：
2
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作者
潘中良
《中国工程科学》
2002年第1期69-74,共6页
在逻辑函数Reed Muller模式的电路可测性设计方面 ,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路 ,提出了一种设计方案 ,可实现任意逻辑函数的功能 ,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法 ,并可...
在逻辑函数Reed Muller模式的电路可测性设计方面 ,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路 ,提出了一种设计方案 ,可实现任意逻辑函数的功能 ,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法 ,并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。
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关键词
逻辑函数
数字电路
可测性设计
故障定位
AND
门
阵列
GRM电路
xor
门
树
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职称材料
题名
数字电路可测性设计的一种故障定位方法
被引量：
2
1
作者
潘中良
机构
华南师范大学物理系
出处
《中国工程科学》
2002年第1期69-74,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 0 0 6 0 0 2 )
文摘
在逻辑函数Reed Muller模式的电路可测性设计方面 ,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路 ,提出了一种设计方案 ,可实现任意逻辑函数的功能 ,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法 ,并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。
关键词
逻辑函数
数字电路
可测性设计
故障定位
AND
门
阵列
GRM电路
xor
门
树
Keywords
logic functions
Reed Muller expressions
design for testability
single stuck at fault
faults location
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
数字电路可测性设计的一种故障定位方法
潘中良
《中国工程科学》
2002
2
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