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Sn^(4+)掺杂对TiO_2纳米颗粒膜光催化降解苯酚活性的影响 被引量:33
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作者 曹亚安 沈东方 +6 位作者 张昕彤 孟庆巨 马颖 吴志芸 白玉白 李铁津 姚建年 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期1910-1912,共3页
We prepared TiO 2(anatase) and Sn doped TiO 2 nanoparticlate film by Plasma enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD) method. XRD and XPS experiments showed that Sn was doped into the lattice of TiO 2 with a ratio of ... We prepared TiO 2(anatase) and Sn doped TiO 2 nanoparticlate film by Plasma enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD) method. XRD and XPS experiments showed that Sn was doped into the lattice of TiO 2 with a ratio of n (Sn)∶ n (Ti)=1∶10 . Sn doping largely enhanced the photocatalytic activity of TiO 2 film for phenol degradation. The enhancement in photoactivity by doping was discussed, based on the characterization with AFM, FTIR and EFISPS. Sn doping produced localized level of Sn 4+ in the band gap of TiO 2, about 0.4 eV below the conduction band, which could capture photogenerated electrons and reduce O 2 adsorbed on the surface of TiO 2 film, thus accelerated the photocatalytic reaction. 展开更多
关键词 pecvd TiO2纳米颗粒膜 掺杂 光催化 降解 苯酚 催化活性 二氧化钛 催化剂
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PECVD淀积氮化硅薄膜性质研究 被引量:43
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作者 王晓泉 汪雷 +3 位作者 席珍强 徐进 崔灿 杨德仁 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第3期341-344,共4页
使用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)在P型硅片上沉积了氮化硅(SiNx)薄膜,使用薄膜测试仪观察了薄膜的厚度、折射率和反射光谱,利用扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)观察了截面和表面形貌... 使用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)在P型硅片上沉积了氮化硅(SiNx)薄膜,使用薄膜测试仪观察了薄膜的厚度、折射率和反射光谱,利用扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)观察了截面和表面形貌,使用傅立叶变换红外光谱仪(FTIR)和能谱仪(EDX)分析了薄膜的化学结构和成分。最后,考察了薄膜在经过快速热处理过程后的热稳定性,并利用霍尔参数测试仪(Hall)比较了薄膜沉积前后载流子迁移率的变化。 展开更多
关键词 太阳电池 pecvd 氮化硅
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TiO_2纳米粒子膜的表面态性质对光催化活性的影响 被引量:24
3
作者 曹亚安 丁兰 +8 位作者 马颖 管自生 谢腾峰 张昕彤 吴志芸 白玉白 李铁津 姚建年 吴越 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第11期1787-1789,共3页
TiO 2 nanoparticle film catalysts with different thicknesses were prepared by plasma enhanced chemical vapor deposition(PECVD) method and the surfaces were subsequently treated by TiCl 4 or O 2 plasma. Two kinds of Ti... TiO 2 nanoparticle film catalysts with different thicknesses were prepared by plasma enhanced chemical vapor deposition(PECVD) method and the surfaces were subsequently treated by TiCl 4 or O 2 plasma. Two kinds of TiO 2 films with different surface properties were obtained. Their surface microstructures and energy levels of surface states were tested by AFM, XRD, SPS. The photocatalytic activities of the catalysts were determined via photodegradation experiments of phenol. The results demonstrated that photocatalytic activities of samples whose surface was treated by O 2 plasma were greater than those treated by TiCl 4 plasma. Moreover, photodegradation ratio of phenol during the first hour catalyzed by 0.17 μm thickness TiO 2 nanoparticle film was greater than other samples. Especially, the difference of photocatalytic activities of TiO 2 nanoparticle films treated by TiCl 4 or O 2 plasma was respectively explained by energy band theory. 展开更多
关键词 纳米粒子膜 pecvd 表面态 二氧化钛 光催化剂
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TiO_2纳米粒子膜表面性质的研究 被引量:19
4
作者 曹亚安 谢腾峰 +6 位作者 张昕彤 管自生 马颍 吴志芸 白玉白 李铁津 姚建年 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1999年第8期680-683,共4页
TiO2 nanoparticulate films were prepared by means of Plasma-enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD). By further surface treatment by TiCl4 or O2 plasma, films with dif- ferent surface properties were obtained. It... TiO2 nanoparticulate films were prepared by means of Plasma-enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD). By further surface treatment by TiCl4 or O2 plasma, films with dif- ferent surface properties were obtained. It was found that treatment by TiCl4 plasma enhanced the amount of Ti3+ suiface state and Ti dislocation of the film, detected by the surface photovoltage spectroscopy, while O2 plasma surface treating enhanced its amount of O2 surface state. It was also indicated by the H2O adsorption experiment that film treated by O2 plasma had larger separation efficiency for photogenerated carriers than the one treated by TiCl4 plasma. 展开更多
关键词 二氧化钛 pecvd 纳米粒子膜 表面处理 光催化剂
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PECVD法生长氮化硅工艺的研究 被引量:30
5
作者 吴清鑫 陈光红 +1 位作者 于映 罗仲梓 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期703-705,710,共4页
采用了等离子体增强化学气相沉积法(plas-ma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在聚酰亚胺(polyimide,PI)牺牲层上生长氮化硅薄膜,讨论沉积温度、射频功率、反应气体流量比等工艺参数对氮化硅薄膜的生长速率、氮硅比、残余应... 采用了等离子体增强化学气相沉积法(plas-ma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在聚酰亚胺(polyimide,PI)牺牲层上生长氮化硅薄膜,讨论沉积温度、射频功率、反应气体流量比等工艺参数对氮化硅薄膜的生长速率、氮硅比、残余应力等性能的影响,得到适合制作接触式射频MEMS开关中悬梁的氮化硅薄膜的最佳工艺条件。 展开更多
关键词 pecvd 氮化硅 聚酰亚胺 残余应力 射频MEMS开关
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纳米压痕和划痕法测定氧化硅薄膜材料的力学特性 被引量:17
6
作者 张海霞 张泰华 郇勇 《微纳电子技术》 CAS 2003年第7期245-248,共4页
为了研究不同制备工艺对材料力学性能的影响 ,选择了热氧化、LPCVD和PECVD三种典型工艺 ,在硅片上制备 1μm氧化硅薄膜。通过纳米压痕和划痕检测可知 ,热氧化工艺制备的SiO2薄膜的硬度和模量最大 ,LPCVD制备的样品界面结合强度高于PECV... 为了研究不同制备工艺对材料力学性能的影响 ,选择了热氧化、LPCVD和PECVD三种典型工艺 ,在硅片上制备 1μm氧化硅薄膜。通过纳米压痕和划痕检测可知 ,热氧化工艺制备的SiO2薄膜的硬度和模量最大 ,LPCVD制备的样品界面结合强度高于PECVD。纳米压痕和划痕技术为此提供了丰富的近表面弹塑性变形和断裂等的信息 。 展开更多
关键词 纳米压痕 划痕法 氧化硅薄膜材料 力学特性 热氧化 MEMS材料
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PECVD沉积氮化硅膜的工艺研究 被引量:21
7
作者 刘志平 赵谡玲 +2 位作者 徐征 刘金虎 李栋才 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第1期54-59,共6页
采用等离子体增强型化学气相沉积(PECVD)法在晶体硅太阳电池表面镀上一层氮化硅减反射膜,通过数值分析和实验研究的方法讨论了压强、SiH_4/NH_3比、总气体流量及时间等工艺参数对镀膜速率、折射率和镀膜均匀性及钝化效果的影响。在温度... 采用等离子体增强型化学气相沉积(PECVD)法在晶体硅太阳电池表面镀上一层氮化硅减反射膜,通过数值分析和实验研究的方法讨论了压强、SiH_4/NH_3比、总气体流量及时间等工艺参数对镀膜速率、折射率和镀膜均匀性及钝化效果的影响。在温度为450℃、NH_3/SiH_4=8:1、总气体流量为4320sccm、压力为170Pa、沉积时间为720s的条件下生长出平均膜厚为75nm、折射率为2.05、少子寿命相对较高的氮化硅膜,且应用于单晶整舟为168片的管式PECVD设备,片间膜厚级差在5nm以内,而折射率级差在0.3以内,少子寿命可提高约30%。 展开更多
关键词 pecvd 氮化硅 镀膜工艺 少子寿命
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TiO_2/V_2O_5双层薄膜的TMA气敏特性研究 被引量:14
8
作者 童茂松 戴国瑞 +2 位作者 何秀丽 吴远大 高鼎三 《传感器技术》 CSCD 2000年第4期5-6,10,共3页
报道了以TiCl4 和V2 O5为源 ,采用等离子增强化学气相沉积 (PECVD)和溶胶 -凝胶 (sol-gel)技术制备了TiO2 /V2 O5双层薄膜 ,将该薄膜沉积在带有金梳状电极的陶瓷管和硅片上 ,进行了X射线衍射(XRD)分析 ,并且测量其对三甲基胺 (TMA)的气... 报道了以TiCl4 和V2 O5为源 ,采用等离子增强化学气相沉积 (PECVD)和溶胶 -凝胶 (sol-gel)技术制备了TiO2 /V2 O5双层薄膜 ,将该薄膜沉积在带有金梳状电极的陶瓷管和硅片上 ,进行了X射线衍射(XRD)分析 ,并且测量其对三甲基胺 (TMA)的气敏特性。结果发现该双层薄膜对TMA具有高灵敏度、良好的选择特性和快速的响应恢复特性。 展开更多
关键词 双层薄膜 PRCVD 溶胶-凝胶 三甲基胺 气敏特性
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退火对富硅氮化硅薄膜的结构和发光的影响 被引量:18
9
作者 王颖 申德振 +4 位作者 张吉英 刘益春 张振中 吕有明 范希武 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期18-21,共4页
采用等离子体增强化学气相沉积方法(PECVD),在低衬底温度下制备了富硅氮化硅薄膜。利用红外吸收谱(IR)、XPS光电子能谱和光致发光谱(PL),研究了不同的退火温度对薄膜结构和发光的影响。研究发现,薄膜经退火后,在发光谱中出现一强的发光... 采用等离子体增强化学气相沉积方法(PECVD),在低衬底温度下制备了富硅氮化硅薄膜。利用红外吸收谱(IR)、XPS光电子能谱和光致发光谱(PL),研究了不同的退火温度对薄膜结构和发光的影响。研究发现,薄膜经退火后,在发光谱中出现一强的发光峰。当经过900 ℃退火后,随着与硅悬键有关的发光峰的消失,该强的主发光峰发生了明显的蓝移,并且有所宽化。蓝移现象源于高温退火后,在薄膜中有小尺寸的 Si团簇形成。通过实验结果分析,提出薄膜的发光起因于包埋在氮化硅中的Si团簇。 展开更多
关键词 pecvd 光致发光 Si团簇 悬键
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PECVD生长氮化硅介质膜的工艺研究 被引量:13
10
作者 张顾万 龙飞 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期201-203,217,共4页
对PECVD生长氮化硅介质膜的工艺条件进行了实验研究 ,获得了生长氮化硅介质膜的最佳工艺条件 ,制作出了高质量的氮化硅介质膜。对样品进行了湿法腐蚀和超声实验 ,在显微镜下观察无膜脱落现象发生。阐述了几种工艺参数对介质膜生长的影响。
关键词 pecvd 氮化硅 薄膜 介质膜
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低应力PECVD氮化硅薄膜工艺探讨 被引量:14
11
作者 王玉林 郑雪帆 陈效建 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1999年第4期448-452,共5页
介绍了一种掺氦的等离子增强化学气相淀积(PECVD)氮化硅薄膜工艺技术,可调控氮化硅薄膜的应力,从而在较低的射频功率下生长低应力的氮化硅薄膜。文中对其机理作了初步的探讨。所生长的氮化硅薄膜的折射率和腐蚀速率没有明显变... 介绍了一种掺氦的等离子增强化学气相淀积(PECVD)氮化硅薄膜工艺技术,可调控氮化硅薄膜的应力,从而在较低的射频功率下生长低应力的氮化硅薄膜。文中对其机理作了初步的探讨。所生长的氮化硅薄膜的折射率和腐蚀速率没有明显变化,对器件,尤其是对砷化镓异质结器件几乎没有应力损伤。 展开更多
关键词 异质结器件 氮化硅薄膜 工艺 pecvd
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等离子体气相沉积非晶SiO_2薄膜的特性研究 被引量:17
12
作者 何乐年 《真空科学与技术》 EI CSCD 北大核心 2000年第4期247-251,共5页
用傅立叶红外吸收光谱 ,电子自旋共振 ,表面台阶仪等研究了等离子体增强化学气相沉积法制备的非晶SiO2 薄膜的特性与膜厚的关系。当膜厚从 0 1 μm递增到 1 1 μm时 ,1 0 60cm- 1 附近的Si—O—Si伸缩振动吸收峰从 1 0 50cm- 1 漂移到... 用傅立叶红外吸收光谱 ,电子自旋共振 ,表面台阶仪等研究了等离子体增强化学气相沉积法制备的非晶SiO2 薄膜的特性与膜厚的关系。当膜厚从 0 1 μm递增到 1 1 μm时 ,1 0 60cm- 1 附近的Si—O—Si伸缩振动吸收峰从 1 0 50cm- 1 漂移到1 0 75cm- 1 ,但是 80 0cm- 1 处的Si—O—Si弯曲振动吸收峰不随膜厚变化而变化。通过比较 ,由于多重反射而引起的Si—O—Si伸缩振动吸收峰漂移的理论计算值 ,认为本研究中的Si—O—Si伸缩振动吸收峰的漂移不仅是由于多重反射效应 ,而且更主要是由于薄膜的物理性能随膜厚增加而发生了变化。Si悬挂键密度。 展开更多
关键词 pecvd 非晶二氧化硅薄膜 制备 性质
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PECVD法氮化硅薄膜的研究 被引量:9
13
作者 吴大维 范湘军 +2 位作者 郭怀喜 张志宏 李世宁 《材料科学与工程》 CSCD 1997年第1期46-49,共4页
本文采用射频等离子体增强化学气相生长法(PECVD),在单晶硅衬底上生长氮化硅薄膜,经X射线衍射测试发现,在(100)晶向硅片上生长的氮化硅薄膜为(101)晶向的外延生长膜。还用红外吸收光谱拉曼光谱和X射线光电子能谱... 本文采用射频等离子体增强化学气相生长法(PECVD),在单晶硅衬底上生长氮化硅薄膜,经X射线衍射测试发现,在(100)晶向硅片上生长的氮化硅薄膜为(101)晶向的外延生长膜。还用红外吸收光谱拉曼光谱和X射线光电子能谱测试了β-Si3N4的特性,讨论了它在微电子学中的应用。 展开更多
关键词 pecvd 外延生长 氮化硅 薄膜
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磷掺杂纳米硅薄膜的研制 被引量:12
14
作者 刘明 王子欧 +1 位作者 奚中和 何宇亮 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期983-988,共6页
用PECVD薄膜沉积方法 ,成功地制备了磷掺杂纳米硅 (nc Si:H(P) )薄膜 .用扫描隧道电镜 (STM )、Raman散射、傅里叶变换红外吸收 (FTIR)谱、电子自旋共振 (ESR)、共振核反应 (RNR)技术对掺磷纳米硅进行了结构分析 ,确认了样品的微结构为... 用PECVD薄膜沉积方法 ,成功地制备了磷掺杂纳米硅 (nc Si:H(P) )薄膜 .用扫描隧道电镜 (STM )、Raman散射、傅里叶变换红外吸收 (FTIR)谱、电子自旋共振 (ESR)、共振核反应 (RNR)技术对掺磷纳米硅进行了结构分析 ,确认了样品的微结构为纳米相结构 .掺磷后膜中纳米晶粒的平均尺寸d减小 ,一般在 2 5— 4 5nm之间 ,且排列更加有序 .掺磷nc Si:H膜具有较高的光吸收系数 ,光学带隙在 1 73— 1 78eV之间 ,和本征nc Si:H相同 .掺杂nc Si:H薄膜电导率在 10 -1— 10 1Ω-1·cm-1之间 ,比本征nc Si:H提高了二个数量级 ,室温暗电导最高已达 5 0 5Ω-1·cm-1.同时电导激活能在 0 0 1— 0 0 3eV之间 ,比本征nc 展开更多
关键词 磷掺杂纳米硅 薄膜 pecvd STM
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PECVD低温制备微晶硅薄膜的研究 被引量:15
15
作者 马康 王海燕 +3 位作者 吴芳 卢景霄 郜小勇 陈永生 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期97-101,共5页
实验采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法在玻璃衬底上制备了微晶硅薄膜。研究了氢稀释比、衬底温度、射频功率等因素对薄膜晶化的影响,得出在一定范围内随着衬底温度的升高、射频功率和氢稀释比的增大,薄膜的晶化率得到提高;但进一... 实验采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法在玻璃衬底上制备了微晶硅薄膜。研究了氢稀释比、衬底温度、射频功率等因素对薄膜晶化的影响,得出在一定范围内随着衬底温度的升高、射频功率和氢稀释比的增大,薄膜的晶化率得到提高;但进一步提高沉积温度、射频功率反而会使薄膜晶化效果变差,并对晶化硅薄膜低温生长的机理进行了初步的探讨。 展开更多
关键词 pecvd 微晶硅薄膜 晶化率 生长机制
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PECVD法沉积类金刚石膜的结构及其摩擦学性能 被引量:13
16
作者 杨莉 陈强 张受业 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期292-297,共6页
以C2H2为碳源,Ar气为辅助气体,利用射频等离子体化学气相沉积的方法在有机薄膜PET和载玻片上制备了类金刚石(diamond-like carbon,DLC)薄膜。通过红外光谱(FTIR)、拉曼光谱(Raman)分析了所制备DLC薄膜的结构;利用原子力显微镜(AFM)分析... 以C2H2为碳源,Ar气为辅助气体,利用射频等离子体化学气相沉积的方法在有机薄膜PET和载玻片上制备了类金刚石(diamond-like carbon,DLC)薄膜。通过红外光谱(FTIR)、拉曼光谱(Raman)分析了所制备DLC薄膜的结构;利用原子力显微镜(AFM)分析了薄膜的表面形貌;另外,还利用摩擦磨损仪对薄膜的机械性能进行了研究。实验得到:FTIR、Raman谱图分析发现碳氢膜主要由sp2和sp3杂化的碳氢化合物呈层状堆积而成,其组分与沉积参数密切相关;同时,sp2和sp3杂化比例影响所制备薄膜的致密性、均匀性和耐磨性能。 展开更多
关键词 pecvd 类金刚石膜 结构分析 摩擦性能
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氮化硅薄膜的性能研究以及在多晶硅太阳电池上的应用 被引量:12
17
作者 赵慧 徐征 +3 位作者 励旭东 李海玲 许颖 王文静 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期142-147,共6页
利用椭圆偏振仪、准稳态光电导衰减法(QSSPCD)、X射线光电子能谱(XPS)、红外吸收光谱(IR)、反射谱等手段,研究了不同硅烷和氨气配比条件以及沉积温度对在多晶硅太阳电池上所沉积的氮化硅薄膜性能的影响,优化了沉积条件。通过比较沉积前... 利用椭圆偏振仪、准稳态光电导衰减法(QSSPCD)、X射线光电子能谱(XPS)、红外吸收光谱(IR)、反射谱等手段,研究了不同硅烷和氨气配比条件以及沉积温度对在多晶硅太阳电池上所沉积的氮化硅薄膜性能的影响,优化了沉积条件。通过比较沉积前后电池的各项性能,确认经氮化硅钝化后电池效率提高了40%以上,电池的短路电流也提高了30%以上,对于电池的开路电压提高也很大。 展开更多
关键词 氮化硅 pecvd 多晶硅太阳电池
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PECVD淀积SiO_2的应用 被引量:15
18
作者 吕文龙 罗仲梓 +1 位作者 何熙 张春权 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期33-37,共5页
研究了PECVD腔内压力、淀积温度和淀积时间等工艺条件对SiO2薄膜的结构、淀积速率和抗腐蚀性等性能的影响。结果表明,利用剥离工艺,并采用AZ5214E光刻胶作为剥离掩模成功制作了约2μm厚的包裹在金属铝柱周围的SiO2隔热掩模。
关键词 pecvd SIO2 AZ5214E 剥离
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有机发光器件的低温氮化硅薄膜封装 被引量:9
19
作者 黄卫东 王旭洪 +7 位作者 盛玫 徐立强 Frank Stubhan 罗乐 冯涛 王曦 张富民 邹世昌 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 2003年第2期179-184,共6页
利用等离子体化学气相沉积(PECVD)技术,采用不同的沉积条件(20~180℃的基板温度范围和10~30W的射频功率)制备了氮化硅薄膜,研究了沉积条件对氮化硅薄膜性质和防水性能的影响。实验发现随着基板温度的增加,氮化硅薄膜的密度、折射率和S... 利用等离子体化学气相沉积(PECVD)技术,采用不同的沉积条件(20~180℃的基板温度范围和10~30W的射频功率)制备了氮化硅薄膜,研究了沉积条件对氮化硅薄膜性质和防水性能的影响。实验发现随着基板温度的增加,氮化硅薄膜的密度、折射率和Si/N比相应增加,而沉积速率和H含量相应减少;随着射频功率的增加,氮化硅薄膜的沉积速率、密度、折射率和Si/N比相应增加,而H含量相应减少。水汽渗透实验发现即使基板温度降低为50℃,所沉积的氮化硅薄膜仍然具有良好的防水性能。实验结果表明低温氮化硅薄膜可以有效地应用于有机发光器件(OLED)的封装。 展开更多
关键词 有机发光器件 氮化硅薄膜 等离子体化学气相沉积 封装 防水性能 OLED
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二氧化锡非晶超微粒薄膜制备与薄膜性能的研究 被引量:3
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作者 王雅静 姜月顺 +1 位作者 戴国瑞 李枚枚 《化学研究与应用》 CAS CSCD 1999年第1期37-40,共4页
我们用PECVD(等离子激活化学气相沉积)方法制备SnO2薄膜。透射电镜表明400℃以下是非晶状态,扫描电镜测试表明颗粒度为30nm,SnO2薄膜的紫外可见反射吸收光谱中,沉积在石英上的SnO2薄膜出现价带到导带本征... 我们用PECVD(等离子激活化学气相沉积)方法制备SnO2薄膜。透射电镜表明400℃以下是非晶状态,扫描电镜测试表明颗粒度为30nm,SnO2薄膜的紫外可见反射吸收光谱中,沉积在石英上的SnO2薄膜出现价带到导带本征吸收带,可计算出非晶SnO2薄膜禁带宽为3.54eV,SnO2薄膜红外光谱研究表明:SnO2非晶薄膜随着加热温度升高,有序化程度升高,在300℃明显出现572cm-1的SnO2骨架振动带。经300℃老化样品只对醇敏感。为制备好的气敏材料提供理论基础。 展开更多
关键词 薄膜 二氧化锡 气敏材料 非晶薄膜 pecvd
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