基于Sigmoid惯性权值的自适应粒子群优化算法 被引量：17

1

作者 田东平 赵天绪 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2008年第12期3058-3061,共4页

针对粒子群优化算法存在的缺点,提出了基于Sigmoid惯性权值的自适应粒子群优化算法。一方面,引入粒子群早熟收敛的计算公式,以指导算法在进化过程中的具体执行策略,有效避免计算的盲目性,加快算法的收敛速度;另一方面,通过设定粒子群聚... 针对粒子群优化算法存在的缺点,提出了基于Sigmoid惯性权值的自适应粒子群优化算法。一方面,引入粒子群早熟收敛的计算公式,以指导算法在进化过程中的具体执行策略,有效避免计算的盲目性,加快算法的收敛速度;另一方面,通过设定粒子群聚集程度的判定阈值,以使算法在线性递减惯性权值和基于Sigmoid函数思想的非线性递减惯性权值之间进行自适应地动态调整,从而有效减少了算法陷入局部最优的可能。测试函数仿真结果表明了该算法的可行性和有效性。 展开更多

关键词 粒子群优化 SIGMOID函数 惯性权重 平滑过渡 神经网络

下载PDF 职称材料

SiC新型半导体器件及其应用 被引量：14

2

作者 张进城 郝跃 +1 位作者 赵天绪 王剑屏 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期157-162,共6页

给出SiC半导体分立器件与集成电路的研究现状 ,分析了制约SiC半导体器件发展的主要问题 ,同时给出了SiC分立器件与集成电路的应用现状 ,并对其应用前景进行了展望 .

关键词 集成电路 碳化硅 半导体器件

下载PDF 职称材料

论中学数学课程政策的价值取向演变及发展趋势——基于对教学目的(课程目标)的分析 被引量：10

3

作者 杨博谛 赵天绪 刘燚 《数学教育学报》 CSSCI 北大核心 2018年第3期81-84,共4页

通过对中华人民共和国建国以来中学数学课程标准（教学大纲）中＂课程目标（教学目的）＂在＂社会发展＂、＂学科发展＂和＂学生发展＂3个维度的定性分析,探讨了中国中学数学课程政策的价值取向随社会发展、经济发展而不断变革的过程,... 通过对中华人民共和国建国以来中学数学课程标准（教学大纲）中＂课程目标（教学目的）＂在＂社会发展＂、＂学科发展＂和＂学生发展＂3个维度的定性分析,探讨了中国中学数学课程政策的价值取向随社会发展、经济发展而不断变革的过程,揭示出数学课程政策的价值取向是受社会经济发展等因素制约的.同时,研究表明：解放初期,中学数学课程政策价值取向的主导是＂社会发展＂;随着改革开放,以＂学生发展＂为本的价值取向在中学数学课程政策中逐渐显现出来;而新一轮课程改革以后中学数学课程政策呈现出＂社会发展＂、＂学科发展＂和＂学生发展＂三位一体的价值融合.据此,可以预测中国未来中学数学课程政策的发展趋势. 展开更多

关键词 数学课程 数学课程标准 课程政策 课程目标 价值取向

下载PDF 职称材料

地方高校大学生创新创业的综合评价模型——基于对地方高校创新创业教育的实证分析 被引量：10

4

作者 孙小军 惠姣姣 +1 位作者 赵天绪 杨亚强 《首都师范大学学报（自然科学版）》 2019年第5期6-13,共8页

本文首先依据《地方高校大学生创新创业》问卷调查所获数据,分析当前地方高校大学生创新创业存在的问题;其次在对样本认可度和数据信度分析的基础上,利用基于主成分分析的因子分析法确定出影响地方高校大学生创新创业的8个主成分;再次... 本文首先依据《地方高校大学生创新创业》问卷调查所获数据,分析当前地方高校大学生创新创业存在的问题;其次在对样本认可度和数据信度分析的基础上,利用基于主成分分析的因子分析法确定出影响地方高校大学生创新创业的8个主成分;再次建立了基于BP神经网络的地方高校大学生创新创业综合评价模型,仿真实验验证了模型的有效性;最后从个人、家庭、学校和政府四个方面就如何有效的推进地方高校大学生的创新创业给出了一些建议. 展开更多

关键词 地方高校 创新创业 因子分析 BP神经网络

下载PDF 职称材料

基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计 被引量：6

5

作者 赵天绪 段旭朝 郝跃 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第11期1965-1968,共4页

缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为“硬故障”或“软故障”的概率,给出了精... 缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为“硬故障”或“软故障”的概率,给出了精度较高的IC成品率预测模型.利用成品率缺陷与可靠性缺陷之间的关系,给出了工艺线生产的产品的失效率与该工艺线制造成品率之间的定量关系.在工艺线稳定的条件下,通过该工艺线的制造成品率可以利用该关系式可以有效的估计出产品的失效率,可以有效地缩短了新产品的研发周期. 展开更多

关键词 成品率 失效率 缺陷 软故障 硬故障

下载PDF 职称材料

集成电路互连线寿命的工艺缺陷影响分析 被引量：7

6

作者 赵天绪 段旭朝 郝跃 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2006年第2期227-232,共6页

在深亚微米和超深亚微米集成电路中,互连线失效是影响集成电路可靠性的主要因素之一.由于在集成电路制造过程中存在着缺陷,缺陷的出现导致了集成电路可靠性的下降,尤其是出现在互连线上的丢失物缺陷加剧了互连线的电迁移效应,因此电迁... 在深亚微米和超深亚微米集成电路中,互连线失效是影响集成电路可靠性的主要因素之一.由于在集成电路制造过程中存在着缺陷,缺陷的出现导致了集成电路可靠性的下降,尤其是出现在互连线上的丢失物缺陷加剧了互连线的电迁移效应,因此电迁移失效依然是其主要的失效模式.文中讨论了电路的互连线的寿命模型,分析了丢失物缺陷以及刻蚀工艺的扰动对互连线宽度的影响,提出了新的互连线寿命估计模型.该模型还考虑了线宽、线长和缺陷峰值粒径等因素对导线寿命的影响.利用该模型可以估算出受丢失物缺陷以及刻蚀工艺扰动影响的互连线的寿命变化情况,这对IC电路设计有一定的指导作用.文中还利用模拟实验证明了该模型的有效性. 展开更多

关键词 互连线寿命 电迁移 工艺扰动 缺陷

下载PDF 职称材料

基于关键面积的冗余集成电路成品率分析 被引量：5

7

作者 赵天绪 段旭朝 +1 位作者 马佩军 郝跃 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期544-549,共6页

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .

关键词 关键面积 冗余集成电路 成品率 故障 缺陷

下载PDF 职称材料

集成电路局部缺陷模型及其相关的功能成品率分析 被引量：4

8

作者 赵天绪 郝跃 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期138-142,共5页

大规模集成电路 (VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而 ,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化 ,产生 IC电路连接错误 ,导致电路丧失功能 ,从而影响 IC的成品率 ,特别是功能... 大规模集成电路 (VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而 ,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化 ,产生 IC电路连接错误 ,导致电路丧失功能 ,从而影响 IC的成品率 ,特别是功能成品率。文章主要对缺陷的轮廓模型、空间分布模型和粒径分布模型作了介绍 ;对集成电路成品率的损失机理作了详细论述。最后 。 展开更多

关键词 集成电路 功能成品率 缺陷模型 VLSI

下载PDF 职称材料

基于差分进化算法的智能组卷方法 被引量：6

9

作者 刘淳安 赵天绪 黄梅娟 《计算机与数字工程》 2011年第1期1-3,13,共4页

如何从庞大试题库中自动生成符合教学和考试要求的一套试卷是目前我国利用计算机进行辅助教学的一个重要研究内容。通过分析用户对组卷的要求和试题结构特征,构建了一个智能优化组卷新模型,同时给出了求解的差分进化算法,数值试验结果表... 如何从庞大试题库中自动生成符合教学和考试要求的一套试卷是目前我国利用计算机进行辅助教学的一个重要研究内容。通过分析用户对组卷的要求和试题结构特征,构建了一个智能优化组卷新模型,同时给出了求解的差分进化算法,数值试验结果表明,所给的方法在组卷效率和质量方面具有更好的性能。 展开更多

关键词 智能组卷 差分进化 组卷算法 智能优化

下载PDF 职称材料

一种IC缺陷轮廓建模的新方法 被引量：2

10

作者 姜晓鸿 赵天绪 +1 位作者 郝跃 徐国华 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期46-48,共3页

现用于集成电路（ＩＣ）成品率预报及故障分析的缺陷模型均是用圆或正方形来代替真实缺陷的复杂轮廓进行近似建模的，从而在模型中引入了很大的误差．本文利用分段线性插值的思想直接对真实缺陷的方向尺寸进行逼近，从而提出了一种新的... 现用于集成电路（ＩＣ）成品率预报及故障分析的缺陷模型均是用圆或正方形来代替真实缺陷的复杂轮廓进行近似建模的，从而在模型中引入了很大的误差．本文利用分段线性插值的思想直接对真实缺陷的方向尺寸进行逼近，从而提出了一种新的缺陷轮廓表征模型．实验结果表明：与传统的最大圆模型、最小圆模型及椭圆模型相比，新模型的建模精度有了较大的提高． 展开更多

关键词 IC 缺陷模型 分段线性插值 故障概率 成品率

下载PDF 职称材料

VLSI容错设计研究进展(1)——缺陷的分布模型及容错设计的关键技术 被引量：2

11

作者 郝跃 赵天绪 易婷 《固体电子学研究与进展》 CSCD 北大核心 1999年第1期20-32,共13页

随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强，芯片的成品率逐渐下降，为了保证合理的成品率，人们将容错技术结合入了集成电路。文中首先概述了缺陷及其分布，然后概述了容错技术，并详细地叙述了动态容错技术中的两个关键问题：故障诊断及... 随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强，芯片的成品率逐渐下降，为了保证合理的成品率，人们将容错技术结合入了集成电路。文中首先概述了缺陷及其分布，然后概述了容错技术，并详细地叙述了动态容错技术中的两个关键问题：故障诊断及冗余单元的分配问题。 展开更多

关键词 缺陷 故障诊断 容错技术 冗余单元 VLSI 设计

下载PDF 职称材料

基于结构主义理论的高中数学概念课教学探究 被引量：5

12

作者 杨博谛 赵天绪 +1 位作者 强盼 介科伟 《数学教学研究》 2017年第5期2-4,共3页

概念课在高中数学教学中具有至关重要的地位，同时也足数学教学研究的重要课题．在当前课改实践中，由于受应试教育的长期影响，不少教师存在重解题、轻概念的现象，

关键词 数学概念 教学探究 结构主义 高中 数学教学 教学研究 应试教育

下载PDF 职称材料

功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法 被引量：2

13

作者 郝跃 马佩军 +1 位作者 张卫东 赵天绪 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第8期76-78,共3页

基于微电子测试双桥结构 ,本文给出了缺陷特征参数提取方法 .这些特征参数包含了缺陷在硅片上的空间分布和粒径 (直径 )分布 。

关键词 集成电路 参数提取 缺陷特征

下载PDF 职称材料

非线性采样控制系统的稳定性 被引量：1

14

作者 邢科义 赵天绪 张东红 《自动化学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第1期143-145,共3页

关键词 混杂系统 非线性采样控制系统 稳定性 微分方程

下载PDF 职称材料

信息技术与中学概率统计教学融合的历程与思考 被引量：2

15

作者 骆世璇 孙小军 +1 位作者 陈建明 赵天绪 《教学与管理》 北大核心 2024年第12期88-94,共7页

信息技术与中学数学教学的融合作为大数据时代基础数学教育研究的新指向,梳理两者融合的发展脉络是探寻其未来融合之路的重要前提。以概率统计为内容载体,以1978年以来的相关政策文本、课程标准(教学大纲)、教科书为明线,以中学数学课... 信息技术与中学数学教学的融合作为大数据时代基础数学教育研究的新指向,梳理两者融合的发展脉络是探寻其未来融合之路的重要前提。以概率统计为内容载体,以1978年以来的相关政策文本、课程标准(教学大纲)、教科书为明线,以中学数学课程的价值取向变化为暗线,采用历史研究法与内容分析法将信息技术与中学概率统计教学融合的演进历程划分为:滴灌融入的蛰伏期、联结融入的萌动期、依偎融入的显露期、磨合融入的孕蕾期、重构融入的绽放期。并且,从课标修订、教材编写、教师和学生发展等方面,为未来信息技术与中学数学教学的融合创新提出了几点思考。 展开更多

关键词 信息技术 概率统计 课程标准 教科书

下载PDF 职称材料

硅片缺陷粒径分布参数的提取方法 被引量：1

16

作者 郝跃 陆勇 +1 位作者 赵天绪 马佩军 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期315-318,共4页

利用电学测量方法 ,给出了在集成电路制造过程中 ,影响光刻工艺的各种颗粒尘埃 (缺陷 )的粒径分布参数提取方法 .首先基于双桥微电子测试结构 ,通过具体制造工艺得到数据 ,然后处理得到故障的粒径分布 .再利用缺陷与故障之间的关系 ,进... 利用电学测量方法 ,给出了在集成电路制造过程中 ,影响光刻工艺的各种颗粒尘埃 (缺陷 )的粒径分布参数提取方法 .首先基于双桥微电子测试结构 ,通过具体制造工艺得到数据 ,然后处理得到故障的粒径分布 .再利用缺陷与故障之间的关系 ,进一步推导出缺陷粒径分布的参数 .结果表明该方法适合于不同的缺陷粒径分布模型 。 展开更多

关键词 缺陷 粒径分布 硅片 集成电路 参数提取

下载PDF 职称材料

大学数学与中学数学的衔接分析及对策研究 被引量：4

17

作者 杨博谛 赵天绪 《内蒙古师范大学学报（教育科学版）》 2017年第5期112-115,共4页

大学数学作为中学阶段数学知识、数学思维、数学观念的延伸和拓展,是大学生进一步学习后继课程的重要保障。近年来,高等教育与初等教育之间的衔接问题依然是我国教育改革中面临的突出问题之一。解决这些问题的对策有:改革教育模式,使各... 大学数学作为中学阶段数学知识、数学思维、数学观念的延伸和拓展,是大学生进一步学习后继课程的重要保障。近年来,高等教育与初等教育之间的衔接问题依然是我国教育改革中面临的突出问题之一。解决这些问题的对策有:改革教育模式,使各教育阶段自然过渡;提升教学目标,使其符合学生的成长规律;完善教学内容,使脱节知识得以补充;灵活运用教学方法,让学生始终作为课堂学习的主体;创新学习方式,使学生自学能力和创新意识不断提高。 展开更多

关键词 大学数学 中学数学 衔接 新课程改革

原文传递

IC缺陷轮廓的分形插值模型 被引量：1

18

作者 姜晓鸿 赵天绪 +1 位作者 郝跃 徐国华 《电子科学学刊》 CSCD 2000年第4期659-666,共8页

现用于集成电路(IC)成品率预报及故障分析的缺陷模型均是用圆或正方形来代替真实缺陷的复杂轮廓进行近似建模的,从而在模型中引入了很大的误差.本文利用分形插值的思想直接对真实缺陷的轮廓进行模拟,从而提出了一种新的缺陷轮廓表征模型... 现用于集成电路(IC)成品率预报及故障分析的缺陷模型均是用圆或正方形来代替真实缺陷的复杂轮廓进行近似建模的,从而在模型中引入了很大的误差.本文利用分形插值的思想直接对真实缺陷的轮廓进行模拟,从而提出了一种新的缺陷轮廓表征模型.实验结果表明:与传统的最大圆模型、最小圆模型及椭圆模型相比,新模型的建模精度有了很大的提高。 展开更多

关键词 分形插值 缺陷轮廓 集成电路

下载PDF 职称材料

基于群体适应度方差的自适应粒子群优化算法 被引量：4

19

作者 田东平 赵天绪 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2010年第18期24-26,39,共4页

针对基本粒子群优化算法稳定性较差和易陷入局部收敛的缺点,提出了一种基于群体适应度方差的自适应粒子群优化算法。一方面,在可行域中采用混沌初始化生成均匀分布的粒群,提高了初始解的质量;另一方面,构造了基于群体适应度方差的惯性... 针对基本粒子群优化算法稳定性较差和易陷入局部收敛的缺点,提出了一种基于群体适应度方差的自适应粒子群优化算法。一方面,在可行域中采用混沌初始化生成均匀分布的粒群,提高了初始解的质量;另一方面,构造了基于群体适应度方差的惯性权重的自适应变换公式,增强了算法跳出局部最优解的能力。仿真实验结果表明了该算法的可行性和有效性。 展开更多

关键词 粒子群优化 稳定性 局部收敛 惯性权重

下载PDF 职称材料

新形势下地方院校大学数学课程改革与实践 被引量：4

20

作者 赵天绪 阎恩让 《技术与创新管理》 2014年第2期153-157,共5页

随着高校连年扩招,"精英式"的高等教育已被普及式的大众教育所代替。随之而来,高等教育面临着不少新问题:在高等教育大众化背景下,本科生的入学人数急剧增加,学生在知识、能力、个性等诸多方面的差异幅度明显拉大,学生数学素... 随着高校连年扩招,"精英式"的高等教育已被普及式的大众教育所代替。随之而来,高等教育面临着不少新问题:在高等教育大众化背景下,本科生的入学人数急剧增加,学生在知识、能力、个性等诸多方面的差异幅度明显拉大,学生数学素养的差异明显加大,地方院校尤为突出。为了适应高等教育新形势,我们采取"突出基本理论,注重工具性和实用性,兼顾学生个性发展和个体差异"的大学数学教学模式和课程内容改革思路,以适应当今社会对人才的数学要求的科技研究人才的培养。 展开更多

关键词 高等教育新形势 教学模式 课程内容改革

下载PDF 职称材料