摘要
本文提出了一种对 VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位 VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义。
This paper proposes a method for VLSI fun ction testing,which can simultaneously detect and locate the stuck-at faults of VLSI’s input/output pins and bridging faults without knowing their internal logic structures.Thus the method features significance in simplifying test process and reducing test cost.
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2005年第4期31-35,91,共6页
Computer Engineering & Science
基金
国家自然科学基金资助项目(60173029)
上海市教委第四期重点学科资助项目
